高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的的一项测试箱。
操作流程
一般来说,高低温冲击试验箱操作分为五部走:预处理、初始检测、试验、恢复、后检测。下面英博仪器和大家一起分享一下详细流程内容:
1.预处理:将被测样品放置在正常的试验大气条件下,直至达到温度稳定。
2.初始检测:将被测样品与标准要求对照,符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。
3.试验:
1)试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到点,保持一定的时间至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
2)高温阶段结束后,在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
3)低温阶段结束后,在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内,保持1h或者直至试验样品达到温度稳定,以时间长都为准。
4)重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小,时间可能会略有误差。
4. 恢复:试验样品从试验箱内取出后,应在正常的试验大气条件下进行恢复,直至试验样品达到温度稳定。
5.后检测:对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。

试验方法:GB10592-2008:高低温试验箱技术条件、GB/T10586-2006:温热试验箱技术条件
电源:GB/T2423.1、GB/T2423.2、GB/T2423.3、GB/2423.4GB/2423.10、GJB150.3A、GJB150.4A、GJB150.9A、GJB150.16A、380V±10%、50HZ、3P+N+G

恒温恒湿试验箱也称恒温恒湿试验机、恒温恒湿实验箱、恒温机或恒温恒湿箱,用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。符合标准:GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008试验A、GB/T2423.2-2008试验B、GB/T2423.3-2006试验Ca、GB/T2423.4-2008试验Db

适用范围:与恰当的振动试验台相配合,满足各种相应的温度、温度、振动三综合试验要求。该产品在航空、航天、船舶、电工、电子、通讯等领域有广泛的用途。
特点:
试验室与制冷系统整体组合式结构,紧凑美观,便于操作。
制冷压缩机组及主要配件均为进口。
进口LCD彩色液晶触摸屏,温、湿度程序自动控制,配有RS232通讯接口中。
可根据用户要求选配不同制造商不同型号的振动台,振动台接口呵有多种形式选用,保证冷、热、汽密封的同时,振动台具有良好的力学传递特性。
可根据用户要求设计、制造不同规格尺寸的三综合试验箱。
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