GDS-5B感应式32.768KHz晶振测试仪

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GDS-5B感应式32.768KHz晶振测试仪——精准守护时间基准的智能检测利器

在电子设备高度依赖精准时钟的今天，32.768KHz晶振作为实时时钟（RTC）模块的核心元件，其稳定性直接关系到设备的计时精度与可靠性。为解决传统晶振测试中接触不良、效率低、数据误差大等痛点，GDS-5B感应式32.768KHz晶振测试仪应运而生。这款专为电子工程师、生产厂商及维修技术人员设计的智能检测设备，以非接触式感应技术为核心，重新定义了晶振测试的便捷性与精准度。

一、产品核心优势

1.非接触式感应测试，高效无损检测

GDS-5B采用自主研发的电磁感应耦合技术，无需物理接触晶振引脚即可完成测试。这一创新设计规避了传统夹具接触不良导致的误差，同时避免了对精密晶振的潜在损伤，尤其适用于SMD贴片式、微型封装等易损元件的检测。

2.32.768KHz专属频段优化

针对RTC晶振特性，设备内置高精度频率计数模块，分辨率达0.00001Hz，可精准捕捉频率偏移、启动时间、稳定性等关键参数。支持动态波形显示功能，实时反馈晶振振荡波形，助力快速定位异常。

3.智能分析，一键生成报告

配备5.7英寸高清触控屏，操作界面简洁直观。设备内置智能算法，可自动计算频率偏差、温度系数等数据，并支持测试结果PDF/CSV格式导出，满足生产批量化检测与质量追溯需求。

4.宽电压适配，场景全覆盖

支持1.5V至5V宽电压输入，兼容市面主流晶振工作电压。配备可调节测试夹具，适配DIP、SMD、圆柱形等多种封装形式，从消费电子到工业设备，一机覆盖全场景测试需求。

二、技术参数一览

三、应用场景

• 生产质检：批量检测晶振频率一致性，保障RTC模块出厂良率。

• 研发调试：快速验证电路设计对晶振性能的影响，缩短开发周期。

• 维修诊断：精准定位时钟故障，避免整机返修带来的成本损失。

• 实验室研究：提供高精度频率基准，支持晶振老化测试、温漂分析等实验。

四、设计亮点

• 便携式机身：尺寸仅180×120×45mm，重量轻于500g，适合现场检测与移动办公。

• 低功耗设计：待机功耗低于2W，连续工作时长超8小时。

• 安全防护：内置过压、反接保护电路，避免误操作损坏设备。

五、总结

GDS-5B 32.768KHz晶振测试仪以“精准、高效、安全”为核心理念，通过非接触式技术与智能化分析的深度融合，为晶振检测领域树立了。无论是追求效率的生产线，还是需要深度分析的研发实验室，GDS-5B都能提供稳定可靠的测试解决方案，助力企业提升产品质量，降低维护成本。

让每一颗晶振的跳动都清晰可见——GDS-5B，您身边的时间基准守护专家。

关键词：32.768KHz晶振测试仪、感应式检测、非接触测试、晶振频率分析、RTC模块检测、智能测试设备