产品详情
产品简介
WAT测试系统，即晶圆允收测试（Wafer Acceptance Test），是半导体晶圆在完成所有制程工艺后，针对晶圆上的电路结构进行电性能测试。
通过对WAT数据的分析，我们可以发现半导体制程工艺中的问题，帮助制程工艺进行调整。
典型配置
4200A-SCS 参数分析仪
SMU 2600B 系列 SourceMeter
探针台测试系统
产品应用
高阻抗应用的 C-V 测量
VCSEL 测试
纳米级设备检定
材料电阻率
MOSFET 检定
激光二极管 (VCSEL) 生产测试
LED 简化的 I/V 检定
IDDQ 测试与待机电流测试
高度同步、多针、多通道、少主机生产系统
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