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高压在片测试系统

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  • 所在地
  • 暂无
  • 四川成都市

更新时间:2025-05-14

有效日期:还剩92

产品详情


产品简介

高压在片测试系统专为研发设备表征/建模或利基生产应用而设计,可在-60°C 至 +300°C温度范围内进行精确的电气测量,适用于超低噪声,DC,RF,mmW和THz应用,并具有半自动和全自动操作,可用于时间获取准确数据。

采用PureLine、AutoGuard 和新一代 MicroChamber 技术实现高准确度 IV/CV、低噪声和 1/f 测量的解决方案

可配置功率电平:

Ø 200V 至 3kV

Ø 1A 至 100A

宽动态范围:

Ø µV 至 3kV

Ø fA 至 100A

全量程容-电压 (C-V) 能力:

Ø fF 至 µF

Ø 支持2、3 和 4 端器件

Ø 高达3kV DC 偏移


典型配置

2600-PCT-xB 高功率参数测试仪

SUMMIT200全自动探针台


产品应用

IV/CV,RF/mmW,失效分析,WLR,MEMS

MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件开发应用




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主营产品:
功率计
公司性质:
其他

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