产品详情
产品名称：粗糙度轮廓仪-T8000RC
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组合测量系统的特点是两个探测系统的智能化 布置，所以组合测量非常。粗糙度和轮廓通过两个 单独的探测系统测定。 粗糙度测头通过套筒定位，所以哪怕是一些难以达到 的测量位置也能轻松实现测头定位。轮廓测头的更换 简单，必要时轮廓测头和粗糙度测头可并行运行。
HOMMEL-ETAMIC T8000 RC 技术亮点:
1. 粗糙度和轮廓的通用测量系统
2. 探测系统更换简单
3. 在整个进给长度内都可测量粗糙度
4. 配置了测头臂机动下降/抬起装置，测量流程自动
粗糙度测头既可与上方的套筒连接，也可安装在进给装置的下
摘要:作为LeicaAT960激光跟踪仪
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摘要:基于AT40x系列激光跟踪仪的
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摘要:Hommel粗糙度轮廓仪-T8000S
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摘要:Hommel粗糙度轮廓仪-T8000R
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