产品详情
产品用途
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冷热冲击试验机用于化工,光电、电子、电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,都可作为其产品改进的依据或参考。
产品特点
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1.内箱采用304不锈钢材质、持久耐用,外箱采用不锈钢;
2.百叶片送风、涡轮循环设计, 温湿度分布均匀性佳;
3.具有自动防霜装置的真空双重玻璃, 可清晰观察试验箱内的试品;
4.长轴马达顶部垂直安装,防止因长期连续运转面导致的马达主轴扁心;
5.零部件的配套与组装匹配性好, 主要功能元器件均采用具有水平的件, 提高了产品的安全性、稳定性和可靠性,能保证用户长时间、 高频率的使用要求;
6.具有自动演算的功能,可将温湿度变化条件立即修正,使温湿度控制更为精确稳定;
7.雾化不锈钢表面,如经常顺着纹路擦拭,可使机器长时间保持崭新的外观;
8.人机对话式触摸屏输入系统, 操作简单易学, 功能强大,支持USB数据存储;
9.可设定程序 100 组, 1000 段, 循环次数可达 999 次, 每段时间设定 99 小时 59 分;
满 足 标 准
GB 10592-89 高、 低温试验箱技术条件 GB/T10589-1989 低温试验箱技术条件 GB/T 2423.2-2001 高温 GB/T 2423.1-2001 低温 GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低温试验方法 Ab GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高温试验方法 B | |
JIS C60068-2-2-1995 试验 B:干热 JIS C60068-2-1-1995 试验 A:低 JIS C60068-2-1-1995 试验 A:低温 | JESD22-A103-C-2004 高温储存试验 JESD22-A119-2004 低温储存试验 JESD22-A119-2004 低温储存试验 |
MIL-STD-810F-501.4 高温 MIL-STD883C 方法 1004.2 MIL-STD810 方法 507.2 程序 3 MIL-STD-810F-502.4 低温 | IEC68-2-01_试验方法 A_冷 IEC68-2-02_试验方法 B_干热 IEC68-2-01_试验方法A_冷 IEC68-2-02_试验方法B_干热 |
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规格型号 | ZY-CJ-50L型(风冷式) |
内箱尺寸 | 400*350*350mm |
外箱尺寸 | 1700*1200*1880mm |
冲击范围 | -40~150℃ |
温度波动度 | ±0.5℃ |
温度均匀度 | ±0.5℃ |
温度恢复时间 | 5分钟内 |
高低温转化时间 | 3-5秒 |
测试箱载重 | 20KG |
电源/功率 | AC 380V/50Hz,约12KW,单相50A |
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