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微显示器件面成像亮度计

  • 产地
  • 所在地
  • 暂无
  • 广东深圳市

更新时间:2025-04-16

有效日期:还剩91

产品详情

项目描述

微显示器件面成像亮度计


  • 名称:微显示器件面成像亮度计

  • 型号:XSP-3

  • 品牌:ELDIM

  • 描述:使用无尽镜头,可以测试1英寸以下显示器的面均匀性以及相关的缺陷检测,空间分辨率为1.5um

产品描述:

使用无尽镜头,可以测试1英寸以下显示器的面均匀性以及相关的缺陷检测,空间分辨率为1.5um

产品用途:

用于测量微显示均匀性光学参数


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