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阻抗分析仪IM3570

  • 产地
  • 所在地
  • 暂无
  • 广东深圳市

更新时间:2025-04-09

有效日期:还剩81

产品详情

       日本阻抗分析仪IM3570,能实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查。它可以通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定,并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
 
       特点:
 
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400









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