XTU-50A膜厚测试仪

仪器简介

XTU-50A是一款、设计紧凑并被广泛应用的X荧光涂镀层测厚及材料成分分析仪，常用于无损测量各类小工件上的镀层厚度和材料成分的分析。广泛用于各类镀层产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

设计理念

1.下照式

为了样品定位简单快捷，仪器采用了下照式设计，即X射线发生器和比例接收器都集成在了仪器下部的舱室中。

2.C型开槽设计

仪器采用了C型开口设计，使得在测量大型工件品时同样方便快捷。

3.封闭式软件

仪器采用了人性化封闭式软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误。

4.报表清晰呈现

仪器操作及测量结果的数据显示， 都通过强大的EFP-T算法软件在电脑上， 以报表的形式呈现。

产品优势

1.下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

2.变焦装置算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度可达0-30mm，特殊要求可达90mm。

3.微焦X射线装置：检测面积可小于0.04mm²的样品，可测试各微小的部件。

4.高效率正比接收器：即使测试0.01mm²以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

5.EFP算法软件：多层多元素， 包括有同种元素在不同涂镀层的检测， 都可快， 准， 稳。

应用领域

1.线路板、引线框架以及电子元器件接插件检测

2.镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

3.手表、精密仪表制造行业

4.钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNd B

5.汽车、五金、电子产品等其他紧固件的表面处理检测

6.卫浴产品装饰把手上Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

7.电镀液的金属阳离子检测

仪器配置

1.微焦X射线发生器

2.光路转换聚焦系统

3.高敏变焦测距装置

4.高效率正比接收器

5.的信号放大器

6.标准片Ni/Fe5um

7.标准片Au/Ni/Cu0.1um/2um

技术参数

1.元素分析范围：氯(Cl)~铀(U)

2.涂镀层分析范围：各种元素及有机物

3.一次性同时分析：23层镀层，24种元素

4.厚度检出限：0.005um

5.最小测量面积：0.04mm²(多种准直器可选)

6.测量距离：0-30mm，特殊要求可到90mm(测试凹槽，可变焦)

7.样品腔尺寸：500mmX360mm×215mm

8.C型设计，允许测试超出样品腔板装物体

9.仪器尺寸：550mm×480mm×470mm

10.仪器重量：45kg

11.XY轴工作台移动范围：50mm×50mm

12.XY轴工作台承重：5KG

选配附件

1.配件箱：其中包括仪器相关配线，密码狗，十二元素片，Ni/Fe5um，Au/Ni/Cu0.1um/2um，网圈等。

2.电镀液测试附件整套：含两个测量杯一卷测试膜， 可用于多品牌X-RAY测厚仪上使用， 电镀液测试样品杯采用高纯元素本底，提高测量精度和检出限，严格控制了容量和溢出物的处理，用来测药水溶液中金属离子的浓度，使用方便简捷，无污染。

3.测厚仪标准片：校正片， 又称标准箔， 膜厚片， 通用于所有X射线镀层测厚仪(Elite、Fischer、Oxford(CMI) Thermo、Veeco、华唯计量等) ， 本公司标准片规格齐全， 可送检第三方出具CNAS证书， 为仪器精准测试保驾护航，欢迎。