供应光电器件高低温箱，频率元件老化箱，电声器件失效分析机,光电器件高低温箱，频率元件老化箱，电声器件失效分析机供货期-仪表网

产品详情

光电器件高低温箱，频率元件老化箱，电声器件失效分析机控制系统

* Q8-901 温湿度控制器（韩国*）
	高分辨?彩色触摸屏接口
	交互式参数输入方式
	支持韩文，英文，中文
	提供内置SMPS的I/O RELAY BOARD-接线简化和节省成本
	同时支持干湿球方式及电子湿度传感器
	基于PC的方便监控
	方便设定多达33种的输出（内置计时器）方式
	支持利用UDC300（选项）的USB存储器-可代替记录器
	内置基于*的PID算法的自动调谐功能
	提供强有力的通讯环境和支持99台多分支结构
	的Fuzzy功能和ARW启动-抑制超程
	显示PV曲线（0~8天）

光电器件高低温箱，频率元件老化箱，电声器件失效分析机规范条件

执行标准.中国国家标准分为强制性国标（GB）和推荐性国标（GB/T）
中国国家标准,GB 10586-89湿热试验箱技术条件
中国国家标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件
中国国家标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件
重庆高低温试验箱　
满足标准
电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热
电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热

美用标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度
美用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美用标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验
美用标准,MIL-STD810D方法502.2
美用标准,MIL-STD810方法507.2程序3
重庆高低温试验箱
日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温

美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验
重庆高低温试验箱
中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温
中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温
中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法
中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验
中国国家标准,GB/T2423.4-93方法
重庆高低温试验箱
中国国家环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验

◇型号规格及主要技术参数

型号	PSL-80U	PSL-150U	PSL-225U	PSL-408U	PSL-800U	PSL-1000U
温度范围	R:-20℃～++150℃,L:-40℃～+150℃, U:-60℃～+150℃,S:-70℃～+150℃
湿度范围	20%～98R.H
温度精度	±0.3℃
湿度精度	±2.5%R.H
温度均匀度	±0.5℃
升温时间	-20℃～+100℃约需35min -40℃～+100℃约需40min -70℃～+100℃约需60min
降温时间	+20℃～-20℃约需45min +20℃～-40℃约需60min +20℃～-70℃约需90min
内箱尺寸	400×500 ×400	500×600 ×500	500×750 ×600	600×850 ×800	1000×1000 ×800	1000×1000 ×1000
外箱尺寸	880×1650 ×920	1000×1500 ×1000	1100×1600 ×1100	1200×1700 ×1300	1500×1850 ×1400	1500×1850 ×1520
内箱材质	SUS304#不锈钢镜面板
外箱材质	不锈钢雾面拉丝板或烤漆喷塑
保温材质	硬质发泡胶（当高温为150℃时采用玻璃棉）
冷冻系统	全封闭压缩机
配件	观察窗,上下间距可调隔层2片,测试孔Ø50mm一个,箱内照明灯
重量	200	300	400	450	550	600
电源	AC220V 50Hz		AC380C 50H