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非接触式膜厚测量仪E-80

  • 产地
  • 所在地
  • 暂无
  • 广东深圳市

更新时间:2025-03-28

有效日期:还剩89

产品详情

非接触式膜厚测量仪 E-80





产品描述: 

◆非接触光学测量系统


◆应对各种高反光、高透光材质


◆高速采样,周期20µs  


◆强大的CPK统计功能


◆测量轮廓、断差、槽深、膜厚等


技术: 

◆采用白光共焦技术,分辨率达到纳米级,同时采用了光纤传感器,具有抗干扰、损耗低、安全隔离、可靠性高等优点 


◆机械精度达到微米级,运行平稳,跳动小,磨损低 


◆Y向自动测量,重复精度1μm 


应用: 

◆环氧树脂测量 


◆印刷图形测量 


◆激光打标测量 


◆焊膏厚度测量 


◆表面膜厚测量 




设备技术参数:


项     目

技术参数

外观尺寸

650mm*500mm*600mm

测量扫描行程

80mm

Z轴可调行程

50mm

有效测量范围

60mm

扫描最小步距

2um

扫描速度

30mm/s

测试重复精度

20nm(标样)

电     源

AC220V±10%,50-60 Hz




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主营产品:
x射线荧光镀层测厚仪
公司性质:
其他

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