产品详情
非接触式膜厚测量仪 E-80
产品描述:
◆非接触光学测量系统
◆应对各种高反光、高透光材质
◆高速采样,周期20µs
◆强大的CPK统计功能
◆测量轮廓、断差、槽深、膜厚等
技术:
◆采用白光共焦技术,分辨率达到纳米级,同时采用了光纤传感器,具有抗干扰、损耗低、安全隔离、可靠性高等优点
◆机械精度达到微米级,运行平稳,跳动小,磨损低
◆Y向自动测量,重复精度1μm
应用:
◆环氧树脂测量
◆印刷图形测量
◆激光打标测量
◆焊膏厚度测量
◆表面膜厚测量
设备技术参数:
项 目 | 技术参数 |
外观尺寸 | 650mm*500mm*600mm |
测量扫描行程 | 80mm |
Z轴可调行程 | 50mm |
有效测量范围 | 60mm |
扫描最小步距 | 2um |
扫描速度 | 30mm/s |
测试重复精度 | 20nm(标样) |
电 源 | AC220V±10%,50-60 Hz |
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