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DIL 806采用了阴影光的方法。
DIL806测量本质上是一个的测量，不受随温度程序变化的系统热膨胀的影响。
DIL806采用了创新的板形炉，提供了的温度均匀性和响应时间。
非接触式测量的*性。
DIL806提供了的灵活性的样品类型和制样。
光学膨胀测量。
100 μm 高的检测区域。
样品的水平和垂直方向均可实现均匀的温度。
测量方法无需校准和校正。
不仅可在空气中分析样品，还可在真空和惰性气体中进行分析（这是金属和金属合金分析的关键要求）。
| 样品长度： | 0.3 – 30 mm |
| 样品高度： | 删除/广泛 10 mm |
| 位移变化： | 删除/广泛 29 mm |
| 位移分辨率： | 50 nm |
| 温度分辨率： | 0.1 ℃ |
| α 准确度： | 0.03 x 10-6 K-1 |
| 温度范围： | -150 ℃ 至 -600 ℃、室温到 900 ˚C 、室温到 1400 ˚C |
| 气氛： | 真空、惰性气体、空气、DIL 806L: 空气 |
陶瓷釉料、原料与烧结后的陶瓷、玻璃化转变和软化温度、烧结过程、薄膜的热膨胀、快速烧成陶瓷等。
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