供应PILATUS3 R CdTe-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器,PILATUS3 R CdTe-瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器供货期-仪表网

产品详情

1、产品特点：

PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉（CdTe）传感器中直接检测硬X射线的优点。
      与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo，Ag和In辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
      实验室中的X射线源，尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供了较快的计数能力，结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，兼容所有实验室应用和的X射线源。
       具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的组合，并且是实验室中这些要求的更高匹配。

2、核心优势
     - Mo，Ag和In量子效率> 90％
     - 直接检测清晰的空间分辨率
     - 没有读出噪音，也没有黑暗信号达到较高精度
     - 高动态范围
     - 荧光背景抑制
     - 计数率
     - 同步辐射级别的辐射硬度
     - 免维护运行
     - 高可靠性：没有容易发生故障的密封，无需冷却至室温以下

3、应用领域
     - 电荷密度分析
     - 对分布函数（PDF）分析
     - 高分辨率化学结晶学
     - 高压/高温XRD
     - 关键尺寸SAXS
     - 计算机断层扫描（CT）
     - 无损检测（NDT）

技术参数：

PILATUS3 R CdTe	1M	300K	300K-W	100K
探测器模块数量	2 × 5	1 × 3	3 × 1	1 × 1
有效面积：宽×高 [mm²]	168.7 x 179.4	83.8 × 106.5	253.7 x 33.5	83.8 x 33.5
像素大小 [μm²]	172 x 172
总像素数量	981 x 1043	487 × 619	1475 × 195	487 x 195
间隙宽度, 水平/垂直（像素） *每个模块之间水平间隙增加1个像素	7* / 17	- */ 17	7* / -	-* / -
非灵敏区 [ % ]	7.8	5.7	1.1	0.2
缺陷像素	< 0.1%
帧频 [Hz]	5	20	20	20
读出时间 [ms]	7
点扩散函数	1 pixel（FWHM）
计数器深度	20 bits（1,048,576 counts）
功耗 [W]	165	30	30	30
尺寸（WHD）[mm³]	265 x 286 x 455	158 x 193 x 262	280 x 62 x 296	114 x 69 x 118 (探头)
重量 [kg]	25	7.5	7.0	0.9（探头）
模块冷却	水冷	水冷	水冷	水冷
外接触发电压	5V TTL	5V TTL	/	/