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电感耦合等离子体质谱 (ICP-MS)7900 ICP-MS

Agilent 7900 ICP-MS 开启了单四极杆 ICP-MS 的新纪元

Agilent 7900 ICP-MS 是一款灵活的单四极杆电感耦合等离子体质谱仪，可提供非常出色的基质耐受性、有效的氦碰撞模式、超低的检测限和宽广的动态范围。因此，无论样品类型如何，您都可以确信始终报告准确的数据，即使在痕量分析中也是如此。

7900 ICP-MS 为要求苛刻的商业和工业应用提供了超高的性能，并具有研究和高级分析（例如形态分析）所需的灵活性。高灵敏度和瞬时信号的快速采集是单纳米颗粒 (spICP-MS)、单细胞分析和激光剥蚀所必需的，让您能够在竞争中脱颖而出。

特性

超稳定的（低 CeO/Ce）等离子体可提供出色的基质耐受能力
超高基质进样系统 (UHMI) 使您能够运行总溶解固体量 (TDS) 高达 25% 的样品
氦 (He) 池气体模式能够可靠地控制多原子干扰，从而改善准确度
离轴透镜可在整个质量范围内提供高灵敏度和低检测限
宽动态范围检测器使您可以在同一次样品运行中分析常量和痕量元素
快速积分（驻留时间 0.1 ms）支持分析快速瞬态信号，例如单纳米颗粒 (spICP-MS)
ICP-MS MassHunter 方法向导可帮助您自动构建方法
配置灵活，可轻松连接至可选附件和外围设备，适用于高级应用

应用

使用 HPLC-ICP-MS 进行一体化多元素形态分析

Agilent 7900 ICP-MS 可提供要求的应用所需的灵活性。针对安捷伦液相色谱系统提供全面的连接支持和集中的软件控制，能够实现常规以及高性能的形态分析。同时还支持其他色谱分离（例如 GC、CE 和 FFF。

HPLC-ICP-MS 高级功能包括自动切换色谱柱和流动相，能够在一次无人值守运行序列中分析多种 HPLC-ICP-MS 方法。

单纳米颗粒 (sNP) 分析的高灵敏度和快速信号采集

在激光剥蚀 (LA) ICP-MS 成像应用中，高灵敏度是检测极小纳米颗粒 (NP) 的重要因素，也是获得理想空间分辨率的关键。

7900 在整个质量数范围内具有出色的灵敏度，结合优化的 0.1 ms 驻留时间，可实现快速时间分辨分析 (TRA) 采集。将高灵敏度与 ICP-MS 高稳定性等离子体以及宽动态范围检测器相结合，可轻松实现常量元素分析。

利用灵活的配置和较高的性能轻松应对 ICP-MS 高级应用

7900 可提供要求的应用所需的灵活性。利用 ORS⁴ 碰撞/反应池有效控制干扰，并结合高效的冷等离子体，实现高纯度加工化学品的超痕量分析。可选的样品引入工具包能够实现有机溶剂和腐蚀性样品（例如 HF）的常规分析。

易于连接至第三方外围设备（例如激光剥蚀 (LA-ICP-MS)），从而实现固体的直接、高灵敏度分析。

Agilent 7900 ICP-MS 开启了单四极杆 ICP-MS 的新纪元

ICP-MS 能否兼具高性能、灵活性和易用性？答案是肯定的。

7900 ICP-MS 具有出色的基质耐受能力、高灵敏度、宽动态范围，以及用于控制多原子干扰的的氦气碰撞池模式。这种高性能与一系列自动调谐、方法设置和数据分析工具相结合，使 ICP-MS 的操作比以往更轻松。创新技术和新版 MassHunter 软件平台相结合，使 Agilent 7900 成为更强大、自动化程度更高的四极杆 ICP-MS。 7900 的基质耐受能力扩展为百分之几十的 TDS，并具有 11 个数量级的线性动态范围。此外，更新后的八极杆反应池系统 (ORS) 可支持更高效的氦气碰撞模式。无论何种应用，Agilent 7900 ICP-MS 均可提供优异的数据质量。