马尔粗糙度测量仪XR1

产品特点：

Ø  超过80种按照ISO/JIS 或 MOTIF (ISO 12085)标准的R，P，W 曲线可供选择

Ø  按照当前标准的带通滤波，Ls可以被关闭或者自由选择。

Ø  全面的测量报告

Ø  测量程序Quick and Easy可以通过用户友好的界面功能快速的创建，并按照标准自动选择截止波长和测量长度

Ø  支持不同的校准方法(统计和动态)特定参数Ra or Rz

Ø  可保养和校准周期

Ø  针对不同的应用案例，可选择不同的测量站配置

Ø  多种选件，系统灵活

Ø  限制操作的功能的不同用户权限保证了未经许可的人员无法使用仪器

产品参数：

Ø  测量原则：探针法

Ø  输入：BFW 无导块系统配有 MarSurf SD   26 驱动装置和/或PHT有导块系统配有MarSurf RD   18驱动装置

Ø  测量范围mm：+/- 250 µm（高达+/- 750 µm，3x 测杆长度）适用于BFW系统；350 µm 适用于PHT测头系统

Ø  扫描长度（文本）：MarSurf GD   26 / SD 26：自动；0.56 mm*；1.75   mm；5.6   mm；17.5   mm，56   mm，

Ø  采样长度数量符合ISO/JIS：1至50（默认：5）

Ø  测量力 (N)：0.75 mN

Ø  表面参数：超过80种；符合 ISO / JIS或MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于R-、P- 和W轮廓