纳米粒度电位仪Zetasizer Nano ZSP

产品描述：

Zetasizer Nano ZSP在一种紧凑型装置中包含了三种技术，且拥有一系列选件及附件，以便优化并简化不同样品类型的测量。

动态光散射法用于测量粒度及分子大小。 DLS可测量作布郎运动颗粒的扩散情况，并采用斯托克斯-爱因斯坦方程将其转化为粒度与粒度分布。 内置的非侵入式背散射技术（NIBS）使系统具有很高的灵敏度以及很高的粒度及浓度范围。

检测粒径随浓度的变化还可以得到动态光散射相互作用力因子Kd。

微流变选件采用DLS检测踪粒子的运动，以得到极稀的聚合物与蛋白质溶液的结构。

激光多普勒微量电泳法可用于测量zeta电位。 分子和颗粒在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关 使用型激光相干技术 M3-PALS （相位分析光散射法）检测其速率。 从而实现电泳迁移率的计算，并得出zeta电位及zeta电位分布情况。

表面zeta电位附件使用示踪粒子来测量靠近样品表面的电渗并计算表面的zeta电位。

静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。检测一系列浓度下的样品的散射光强，并得到Debye曲线。 由此可计算出平均分子量及第二维里系数，从而实现分子溶解度的测量。

该技术对整个系统的灵敏度及稳定性要求*，并需要对设计的每个元件进行优化，以确保精确性及重复性。

软件

该软件设计旨在不影响使用简便性的情况下实现功能特点的丰富多样。 标准操作程序（SOP） 可简化常规测量，质量因子可对数据质量进行确认，专家诊断系统则可为数据说明提供协助。

MPT-2自动滴定仪可对pH值、电导率或任何添加剂中的变化影响进行自动化研究。

一系列可抛弃及可重复使用的样品池优化测量不同样品体积、浓度以及流量。

其它选件包括可改善荧光样品测量的滤波器及一个粘度计，用于确定样品粘度达到技术要求的精确性。

产品特点及优势：

颗粒和分子尺寸、平动扩散、电泳迁移率、高低浓度下颗粒的zeta电位、高分子和蛋白质溶液的粘度和粘弹性、浓度、分子量、A2, kD。

可选附件则可测量固体表面的zeta电位。

t使用型M3-PALS技术，实现蛋白质及纳米颗粒zeta电位测量的超高灵敏度。

t粒度测量范围：0.3 nm（直径）至10微米，采用型 NIBS（非侵入式背散射）技术。

t使用附加的样品池进行表面zeta电位测量。

t分子量测量最小可达980Da。

t微观流变学选件可测量粘性及粘弹性。

t出众的蛋白质粒度测量灵敏度，0.1mg/mL （）。

t样品浓度范围为0.1ppm至40%w/v。

t内置蛋白质计算器，计算蛋白质电荷、A2、kD以及分子构成等参数。

t"质量因子"及"专家诊断系统"尤如专家伴随您的左右，使您成竹在胸。

t21CFR软件选项可实现ER/ES合规性。

t科研级软件选项，为光散射专家提供高级运算法则。

t使用自动滴定仪选件进行自动测量。

t色谱法检测器功能可作为粒度检测器与GPC / SEC 或 FFF配合使用。

t光学滤波器选件，用于改善荧光样品的测量。

产品参数：

颗粒粒度及分子大小
测量范围：	0.3 nm - 10.0μm*（直径）
测量原理：	动态光散射
最小样品容积：	12µL
精确度:	优于NIST可追溯胶乳标准的+/-2%
精确度 / 可重复性:	优于NIST可追溯胶乳标准的+/-2%
灵敏度:	0.1mg/mL （）
Zeta 电位以及蛋白质迁移率
测量范围：	0.3nm - 100 微米*（直径）
测量原理：	电泳光散射法
最小样品容积：	150µL （20µL ，采用扩散障碍法）
精确度:	0.12µm.cm/V.s，针对水性系统，采用NIST SRM1980标准参考物质
灵敏度:	1mg/mL （）
分子量
测量范围：	980Da – 20M Da*
测量原理：	静态光散射法，使用德拜图
最小样品容积：	12µL（需要3-5种样品浓度）
精确度:	+/- 10% 典型值
微观流变学（选件）
测量原理：	动态光散射
最小样品容积：	12µL （仅DLS测量）
常规
温度控制范围:	0°C - 90°C +/-0.1**
光源:	He-Ne 激光器 633nm， 5mW
激光安全：	1类
电源功率:	100VA
尺寸 （宽, 长, 高）：	320mm, 600mm, 260mm
重量:	19kg
运行环境
温度:	10°C – 35°C
湿度:	35% - 80%无冷凝
注解（N）	*范围，以样品为准 **at 25ºC
:	Zetasizer Nano系列受以下保护：|非侵入背散射 (NIBS)|EP884580，US6016195，JP|高频和低频电泳 (M3)|EP1154266，US7217350，JP |使用同时检测的光散射测量|EP2235501，CN102066901，JP2011523451，US|插入式样品池表面电位测定|WO2012172330