浊度或颗粒浓度分析仪

浊度分析或颗粒浓度分析都是对液体中存在的颗粒物含量进行定量分析。但是前者中的颗粒物是作为杂质和非正常情况出现在液体中的，它的含量一般较少；而后者中的颗粒物是作为原料、催化剂或者产物存在于液体中，它的含量一般较多。这两种分析方法采用的测量原理也不同：浊度分析一般采用近红外散射光法，颗粒物浓度分析采用宽谱带近红外光吸收法；它们的测量单位有ppm、FTU、NTU、mg/l、FNU 等；

浊度分析应用工艺或设备流程图例

生产过程中避免不了产生颗粒杂质，而这些杂质对下游生产工艺不利或者这些杂质有使用价值和商业价值，则需要对这些颗粒进行处理，过滤截流或者过滤回收，一旦过滤设备出现损坏，比如穿孔或被突破，这些颗粒杂质就会泄漏到设备下游，在过滤设备后安装在线浊度分析仪，可以及时发现过滤器损坏、中间产品质量的不合格；有利于下游生产工艺的继续进行，有效避免最终产品质量降低和下游生产设备出现故障。

如生产过程中的催化剂，价格昂贵而且可以重复使用，因此需要对这些催化剂进行截流回收。通常采用膜过滤设备来拦截催化剂，当过滤膜出现砂眼等损坏时，催化剂就会泄漏到下游，则催化剂消耗量就会加大，同时为后续工艺带来原料杂质，影响后续工艺的正常生产，还有可能导致最终成品品质下降，这些都有损效益，所以在过滤设备后安装在线浊度分析仪能有效避免这些风险与损失。

T-N传感器(近红外散射）特点

一束聚焦后的平行光垂直射入介质，介质内不溶解的粒状物就会产生散射与透射效应，散射光被检测端的 8 个散射光光电接收器接收，透射光被中心的光电接收器接收，散射光接收器与透射光接收器成 11°角，散射光光强与透射光光强的比值与介质内的粒状物含量成正比。由于采用的结构设计，所以不会有其它的折射光对散射光进行干扰，同时很小的偏射角保证散射和透射有着相同光程长，特定的光程长也很容易补偿，比如补偿介质颜色的变化、窗体变脏等。T-N 传感器所使用的测量光谱为近红外光谱 (NIR)：波长范围从 730 到 1100 nm。产品出厂的初始校准是基于 ppm（1 毫克硅藻土 /1 升水），也可提供其它校准标准，如 FTU、EBC 等。T-N传感器不需要初始光强恒定，它的零点被固化在硬件里，永远不需要标零和校准。

A-N传感器(近红外吸收）特点

一束精确聚焦的、光强恒定的、 特定带宽的近红外初始光垂直入射，穿透介质，介质内的不溶解粒状物会对该特定近红外光产生吸收、散射等效应，从而导致光强衰减，衰减后的剩余光被对面的光电检测器检测到，通过信号处理，可以得到初始光衰减了多少（即为初始光的透射率的反对数）。光强的衰减量与被测介质内不溶解粒状物的浓度关系可以用郎伯 - 比尔定律进行描述：透射率的反对数值与产生透射损失的不可溶解粒状物的浓度成正比，该定律既适用于可溶性介质也适用于不可溶性介质。  A-N 传感器采用 NIR（近红外）测量光谱，波长范围：730 ~1100 nm，用于实现与颜色无关的吸收测量。它的测量结果可以用很多单位表示，如 ppm 或者 % 等.

技术参数

典型浊度分析应用案例

-己二酸脱色过滤器后浊度分析（0 ~ 50 ppm）；

-分子筛设备损坏检测浊度分析（0 ~ 100 ppm）；

-离心分离设备液相出口浊度分析（0 ~ 100 ppm）；

-PVC 生产过程中一次盐水二次盐水浊度分析（0 ~ 10 ppm）；

-氨肟化装置膜过滤后清液浊度分析（0 ~ 10 ppm）；

-MDI、TDI、MDA 生产中 NaOH/NaCl 浓度浊度分析（0 ~ 2000 ppm）；

-催化剂回收过滤器后浊度分析（0 ~ 10 ppm）；

-各类橡胶、树脂在高温液态下成品浊度分析（0 ~ 100 ppm）；

-各类聚合物在液态下成品浊度分析（0 ~ 100 ppm）

产品特色

   无需药剂，运维简单

   管道安装，占用空间小

   响应时间短，实时监测

   节省人工，减低成本

   4-20mA或RS485信号输出，实现远程监控

   无三废生成，安全环保