LSR-3塞贝克系数/电阻测试仪

热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小，单位是V/K。
近年来直接将热能转化成电能的方法引起人们的广泛兴趣。通过热电装置收集热发动机和燃烧系统余热并转换成电能可以节省数十亿美元。
为了应对一系列挑战性的应用，Linseis已经开发出LSR-3 Seebeck系数/电阻率测试系统用于分析材料和器件的特性。

特点

LSR—3测试系统可以同时测量塞贝克系数和电阻（电阻率）

可以测量圆柱形或棱柱形的样品，长度6 — 23mm

利用的测量适配器可以测量线状和薄片状样品

通过三种可更换的炉体，测量温度范围可以覆盖-100到1500 ℃

样品架的设计保证了的测量重复性

32位软件可以通过程序实现自动测量

测量数据导出

测量原理:

圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间，下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度，在此温度下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度，然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。的热电偶接触机制保证了以的温度精度测量每个热电偶上每条导线电动势dE。

四端法测量电阻，样品两端通入恒定电流（I），测量样品电压的变化，可以测量出电阻系数。

所有的LINSEIS热分析设备都是用计算机控制的，各个软件模块仅在Microsoft?Windows?操作系统上运行。完整的软件包括3个模块：温度控制，数据采集和数据分析。与其他热分析系统一样，该用于LSR的32位Linseis软件可以实现所有测量准备、实施和评估的基本功能。经过专家和应用工程师的努力，LINSEIS开发出这款容易操作且实用的软件。

特点

• 文本编辑

• 重复测量可少的输入参数

• 实时测量分析

• 测量曲线比较：多达32条曲线

• 曲线扣除

• 多种方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）

• 曲线放大缩小

• 一阶/二阶求导

• 多重峰分析

• 样品温度多点校正

• 焓变多点校正

• 热流Cp测量

• 评估结果保存及导出

• ASCII数据导入与导出

• 数据生成到MS Excel

• 信号控制测量测序

    附    件   

Linseis LSR-3附件:

四种不同炉体:

-100°C -- 500°C

RT -- 800°C

RT -- 1100°C

RT -- 1500°C

测不同几何形状的样品

圆柱形或矩形样品

同一样品可直接用于Linseis LSR-3和Linseis LaserFlash LFA1000或XenonFlash XFA300/600上测量，保证样品一致性，避免因制样的形状带来的测量不确定性。

材料

半导体、金属与合金

工业领域

汽车/航空/航天，开发研究和学术研究，半导体行业/传感器/热电发电机/制冷设备

应用实例:

典型的含碲化合物热电材料在室温至200 ℃温度范围进行测试，电阻率和Seebeck系数在该温度区间的曲线见下图。