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85072A材料测试设备

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更新时间:2024-05-23

有效日期:还剩68

产品详情

特性

  • 测量薄膜、裸基底和低耗损薄膜的复杂介电常数和损耗正切值
  • 符合 IPC TM-650 2.5.5.13 测试方法标准
  • 与是德谐振腔体软件连用
  • 创新设计稳定易用

电气特性

  • 密封空圆柱体的 TEO11 谐振模式:频率 = 10.03 ± 0.03 GHz
  • 密封空圆柱体的 TEO11 谐振模式:Q 因数 = ≥ 20,000(在 -50dB 时输入耦合)

典型不确定性

  • TE011 模式:介电常数的真实部分: ±1%
  • TE011 模式:损耗正切值: ±0.0001
  • 可用的高阶 TE0np 模式:介电常数的实部: ±1 – 2% l
  • 可用的高阶 TE0np 模式:损耗正切值: ±0.0005

采样要求

  • 非磁性(µr* = 1-j0)、均质和非各向异性,具有均匀厚度和平坦平行边
  • 厚度0.1mm 至 5mm,典型值 1mm
  • 最小长度或直径为 56 mm,典型值 >60 mm
  • 1mm 厚度采样的建议值为:介电常数的实部 <100,损耗正切值 <0.01

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广州康祺科技发展有限公司

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主营产品:
分光光度计
公司性质:
其他

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