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在贵金属检测领域，传统的分析方法如试金石法、灰吹法、火试金法等都属于破坏性检测，具有消耗性和危险性，且样品的制备过程耗时更长。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟，可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数，是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡科技制造的金银检测仪引用的就是X射线荧光光谱法这种*的贵金属检测技术。
贵金属检测仪XF-AX是西凡科技根据多年的贵金属检测技术和经验，自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一，是一款配置的全元素检测仪。它配备了进口SDD探测器，采用航空设计，大气，拥有十多项研发，性能突出，体积小重量轻，符合新国标GB18043-2013，可对金银首饰进行准确检测。
可以快速准确检测各种贵金属，应用广泛！
不会对珠宝首饰等被测样品造成任何损坏。
一键测试功能，自动化检测无需配备专业人员
3秒定性，7秒可得出直观结果。
一体化设计，占用空间小，便于携带与管理。
具备反辐射功能，整机寿命超过10年
可靠的检测数据。
加装防辐射装置，主动保护操作人员安全。
设备原理：X荧光能量色散
精确度: ±0.05%
整机分辨率：145±5eV
探测器： 进口Si-PIN探测器
适用温度： -11~46℃
内置电容触摸LED屏：是（9.7吋OLED）
标签打印机：支持
仪器尺寸：:312x480x310mm
测试室尺寸：300x240x110mm
天平/密度仪：支持
是否电脑：电脑一体机
电压： 100V～240V
额定功率：160W
重量：22公斤
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