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BKTEM-B2薄膜热电参数测试系统
关键词:薄膜热电,赛贝克系数,Seebeck,四线法
为解决日益紧迫的能源危机,太阳能、风能、核能等多种新能源不断被开发利用。新能源的使用需要优质的节能材料。
BKTEM-B2薄膜热电参数测试系统利用热电材料制成的制冷和发电系统,具有体积小、重量轻、无任何机械噪音、不造成任何环境污染等众多优点。因此对热电材料的研究非常重要。为了进一步提高热电材料的转化效率(热电优值),对其研究从块体慢慢转移到薄膜材料。
技术原理
动态法:测量 Seebeck 系数
在待测温场下给样品两端加一个连续变化的微小温差,通过记录样品两端温差和热电势的变化,
然后将温差和热电势拟合成一条直线,直线斜率即为该材料在该温场下的 Seebeck 系数。
采用四线法测量电阻率。 硬件特点
专门针对薄膜材料的 Seebeck 系数和电阻率测量。
采用动态法测量 Seebeck 系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。
采用四线法测量电阻率,测量更加稳定可靠。
薄膜热电参数测试系统
技术原理
动态法:测量 Seebeck 系数
在待测温场下给样品两端加一个连续变化的微小温差,通过记录样品两端温差和热电势的变化,然后将温差和热电势拟合成一条直线,直线斜率即为该材料在该温场下的 Seebeck 系数。
采用四线法测量电阻率。 硬件特点
专门针对薄膜材料的 Seebeck 系数和电阻率测量。
采用动态法测量 Seebeck 系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。
采用四线法测量电阻率,测量更加稳定可靠。
1. 实现功能:在室温温场下可同步测量Seebeck系数和电阻率;
2. 电势测量:采集系统采用商业高分辨数字万用表;
3. 温差测量:温差精度控制:+/-0.1K,控温速率:0.02–50K/min;温差控制:0-80K ;
4. Seebeck系数和电阻测量方法:Seebeck系数-静态直流法, 多温差法,电阻率-四端法;
5. Seebeck系数测量范围和分辨率:1μV/K-25V/K;测量分辨率:10nV/K;
6. 电阻率测量范围和分辨率:0.2μOhmm-2.5Ohmm;测量分辨率:10nOhmm;
7. 测量精度:Seebeck 系数 : +/- 7%,电阻率 : +/- 10%;
8. 样品尺寸:直径或正方形 6-12mm,长度6-22mm,正反面电极均可;
9. 探头测试间距:6, 8 mm,任选一种;
10. 外接电源:单相220V ,50Hz;
11. 软件:图形化界面, windows 菜单,数据采集;加热恒温降温温度程序化设计;易于操作的菜单设计,测量结果可以txt,EXC
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