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产品详情

Phasics提供创新的方案来解决*的透镜表征，包括离轴和轴上的MTF和多种波长下的波前误差，受益于Phasics的*技术，即使在大视场条件下也能提供精确的结果，Phasics的Kale测量仪的特点：

-单次测量，MTF测量高达截止频率，精度类似于干涉测量法

-高品质的准直光源，经济有效的解决方案

-无需重新校准离轴测量，自动对焦，易于校准和多种应用

-几种不同的波长（默认为RGB + IR），在几个方位角处测量

-全自动测量过程

MTF测量仪可测的参数

-轴上和轴外MTF，通过焦点MTF

-传输的波前错误，Zernike多项式

-镜头参数：EFL，F＃，OPD在镜头出口瞳孔

-散光，图像失真，场曲率

-相对照度曲线

MTF测量仪的具体参数：

参数	参数值
光学设置	有限到无限配置
波长范围	400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm
入瞳直径	Up to 8.8 mm
F#	> 1.8 mm
Flange焦距	8 to 30 mm
焦距范围	5 to 500 mm
视场角	Up to ±120°
MTF on-axis	准确性 <1%* - 重复性 <0.5%*
MTF off-axis	准确性 <2% -重复性 <1%
MTF 精确度	LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02
MTF 重复性	LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01
失真	准确性 <0.5% - 重复性 <0.05%
场曲率	准确性 <5µm - 重复性 <1µm
OPD（光程差）轴上	准确性 20 nm RMS -重复性<5 nm RMS

Kaleo Bench-iR介绍：

Phasics借助Kaleo Bench-iR系列掀起了红外光学质量控制领域的革命。这些创新的工作台可在一口快速采集中同时提供MTF和波前质量（像差，WFE）。它们涵盖了从1.2 µm至14 µm的整个iR范围。其*的技术具有*的高分辨率和灵敏度，可确保准确表征，同时简化设置和调整。

Kaleo Bench-iR特点和功能：

-沿任何方向

-任何瞳孔大小

-轴上和轴外

-高达截止频率

-各种对焦方法

-EFL，F#，NA

-畸变

-相位图的实时过滤

-色差

-任何瞳孔大小的TF MTF

-与设计比较

Kaleo MTF离轴透镜测试平台介绍：

Kaleo MTF离轴透镜测试平台可在多个波长下执行自动离轴MTF和波前误差测量。它还通过聚焦MTF，畸变，EFL等方式来测量像差（泽尼克系数）。依据镜头的出瞳参数，精确计算并测量透镜的离轴参数。该工作台利用Phasics提供的完整的质量控制技术，具有易用性和多功能性。

Kaleo MTF 离轴透镜测试平台特点

-400至1100nm的6个波长

-在不同的方位角的测试

-*自动化

Kaleo-i MTF测量仪介绍：

Kaleo-i MTF测量仪可以表征*的光学质量。它满足生产线中符合ISO标准的测量要求。它测量单焦点和多焦点*（IOL和MIOL）的MTF和屈光度。利用PHASICS的波前传感器，可以从像差图推导出IOL和MIOL设计的深入特征：功率图，聚焦MTF，方位角（2D）MTF，表面检查。在潮湿和干燥条件下，只需要一种仪器即可控制单焦点和多焦点镜片的质量。几秒钟内，即可确定大多数IOL参数（包括屈光度数，屈光度，MTF）。测量结果高度可重复且准确。

Kaleo-i MTF测量仪的特点：

-符合ISO 11979-2标准的电源和MTF上通过/失败显示

-单个镜头和批次自动报告

-试管和模型眼

-快速的计算机辅助对准（仅对中）

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