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AV-40G型微波介质材料电磁特性参数测试系统

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更新时间:2024-05-06

有效日期:还剩344

产品详情

AV-40G型微波介质材料电磁特性参数测试系统


关键词:微波,介质材料电磁,磁导率,电、磁损耗角正切 ,同轴空气


一、产品介绍:

   微波介质材料目前已经广泛应用于航空航天、微波通信、隐身技术、微波通信、卫星通信、导*制导、电子对抗、雷达导航、遥感、遥测等系统生物医学、 电磁兼容等各领域在研发、生产和使用微波介质材料时都需要测试其电磁特性参数,AV-40G型微波介质材料电磁特性参数测试系统是一款设计采用传输反射法进行宽频带扫频测量,主要设备包括矢量网络分析仪、测试电缆、测试夹具和自动测量软件,系统用于测量固体介质材料的介电常数、磁导率,以及电、磁损耗角正切等性能参数AV-40G型微波介质材料电磁特性参数测试系统目前在国内各大高等院校和科研院所中广泛使用。

二、产品主要应用方面:

1、航空航天、微波通信、卫星通信、

2、隐身技术、导*制导、电子对抗、雷达导航、

3、遥感、遥测等

4、统生物医学、 电磁兼容

三、产品主要特点:

1精确测量功能: 可快速、精确地测量被测件S参数的幅度、相位和群延迟特性,并根据误差模型修正测量结果;

2相位修正功能: 反射系数和传输系数计算材料的复介电常数、复磁导率,及电、磁损耗角正切等性能参数;

3电磁参数显示功能; 二维坐标系显示复介电常数、复磁导率,及电、磁损耗角正切等参数;

四、主要技术:

工作频率范围: 0.5GHz~40GHz

主机频率分辨率: 1Hz

主机频率准确度: ±1ppm(23ºC±3 ºC)

具体测量方式:同轴空气N测量或Ku波段波导腔测量可选

测量方式:传输反射法

测量点数: ≤1601

工作方式: 扫频测量

测量重复性: 优于±0.5Db

测量参数:介电常数实部、虚部,磁导率实部、虚部,电、磁损耗角正切

测量波段:S参数的幅度、相位和群延迟特性

相位修正:二端口网络端面与校准面关系

系统控制:计算机控制,1251015



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北京精科智创科技发展有限公

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生产厂家
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商家概况

主营产品:
垂直度检测仪,水平仪零位检定器,小角度检查仪,水平仪零位检定器,直角尺检查仪,光栅式指示表检定仪,介电测量系统,压电测量系统,铁电测量系统 矿石分析仪│元素分析仪│牛津仪器│X荧光光谱仪
公司性质:
生产厂家

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