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电子及配件测试 高加速寿命试验箱

  • 产地
  • 所在地
  • 合肥市
  • 安徽合肥市

更新时间:2023-10-17

有效日期:已过期

产品详情

电子及配件测试 高加速寿命试验箱概要:

主要用于国防、航天、汽车部件、电子及配件、塑胶、制药等行业相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节


电子及配件测试 高加速寿命试验箱

型号

J-HAST-40

J-HAST-60

J-HAST-80

容积

40L

60L

80L

整体尺寸(WxHxD) cm

900x1800x1120

以图纸为准

以图纸为准

温度控制范围

105℃~+150℃

湿度控制范围

65%RH 100 %RH

温度上升时间

≤100min(从常温到120℃ 且湿度到达85%RH的时间)

温度偏差

≤±1.5℃(空载)

温度均匀度

≤±1.5℃(空载)

湿度偏差

当湿度≥75%RH、湿度偏差≤±3%RH;

当湿度<75%RH、湿度偏差≤±5%RH;

湿度分布均度

±3%RH

压力

2kg/cm²

压力工作范围

0.02~0.19MPa/相对压力

加压时间

0.00 Kg ~ 1.04 Kg/cm²约 45 分

压力波动均匀度

±0.1Kg

符合标准

GB,ISO,ASTM,ULCEN...

电源

AC220V或AC380V

注:本产品可根据客户需求定制B-HASTU-HAST以及单腔式或双腔式




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公司性质:
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