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产品详情
半导体分立器件主要包括二极管(Diode)、三极管(BJT)、晶闸管(SCR)、场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极性晶体管(IGBT)等产品,半导体器件电性能测试仪表高精度数字源表认准生产厂家武汉普赛斯仪表，普赛斯五合一高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具，接线简单、方便操作
高精度数字源表IV扫描曲线图：
利用数字源表简化半导体分立器件特性参数测试
丰富的半导体IV特性测试行业经验；
全面的解决方案：二极管、MOSFET、BJT、IGBT、二极管电阻器及晶闸管等；
提供适当的电缆辅件和测试夹具……
普赛斯高精度数字源表优点：
同时精确提供和测量电压和/或电流；
同步测量，减少测试时间
提供和测量非常广的电流和电压；
电压测试范围30uV-300V,电流测试范围1pA-1A
支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度；
序列测试，简化操作，降低成本
采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便；
触屏操作
与传统电源比：
电源过零需要改变线连接方式；
增加需反复开关机械开关，降低了设备可靠性
电压电流限制精度有限；
电压1%，电流10mA
与电源结合万用表组合比：
万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步；
复杂连线、编程开发
电源限压限流性能差
限压限流精度低，瞬态特性也无法保证
有关半导体器件电性能测试仪表高精度数字源表的更多信息，找普赛斯仪表专员为您解答
