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仪表网供应网 测量/计量 表面测量仪器 光学表面分析仪W1PRO-光学轮廓仪测量原理

W1PRO-光学轮廓仪测量原理

  • 产地
  • 所在地
  • 广东
  • 湖北武汉市

更新时间:2023-10-10

有效日期:已过期

产品详情

光学轮廓仪测量原理

1) 分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能,其中粗糙度分析包括依据国际标准的ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数分析功能;几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等功能;结构分析包括孔洞体积和波谷深度等;频率分析包括纹理方向和频谱分析等功能;功能分析包括SK参数和体积参数等功能。

2)  测量中提供自动多区域测量功能、批量测量、自动聚焦、自动调亮度等自动化功能。

3)  分析中提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能,其中调整位置包括图像校平、镜像等功能;纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能;滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能;提取包括提取区域和提取剖面等功能。

4) 一体化操作的测量与分析软件,操作无须进行切换界面,预先设置好配置参数再进行测量,软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,即可快速实现批量测量功能。

标准配置

1)主机

2)影像系统:1024×1024;

3)光学Zoom:1×;

4)XY位移载物台:自动位移台;

5)物镜转盘:3孔手动

5)品牌计算机;

6)校准模块;

7)操纵手柄;

8) 3D表面轮廓仪软件一套;

9)电气控制柜;

10)仪器配件箱;

11)便携加压充气装置一套;

可选配置:

1) 干涉物镜:2.5×、5×、10×、20×、50×、100×

2) 自动光学变倍目镜: 0.5×、1×、2×

3) 真空吸附台(半导体晶圆片专用):6寸、8寸、12寸

4) 自动测量拼接测量功能模块

5) 物镜转盘:5孔电动


光学轮廓仪测量原理参数表

标准名

参数

ISO 4287-1997


主剖面

粗糙度

波纹度

振幅参数

Pp, Pv ,Pz, Pc, Pt,Pa,Pq,Psk,Pku

Rp, Rv ,Rz, Rc, Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku

Wp, Wv ,Wz, Wc, Wt,Wa,Wq,Wsk,Wku

间距参数

PSm,Pdq

RSm,Rdq

WSm,Wdq

物料比参数

Pmr,Pdc

Rmr,Rdc,Rmr(Rz/4)

Wmr,Wdc,Wmr(Wz/4)

峰值参数

PPc

RPc

WPc

ISO 13565

ISO 13565-2

Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk,Rvk

ISO 12085

粗糙度图形参数

R,AR,R× ,Nr

波纹度图形参数

W,AW,W×,Wte

其他图形参数

Rke,Rpke,Rvke

AMSE B46.1

2D参数

Rt,Rp,Rv,Rz,Rpm,Rma×,Ra,Rq,Rsk,Rku,tp,Htp,Pc,Rda,Rdq,RSm,Wt

DIN EN ISO 4287-2010

原始轮廓参数

Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,

粗糙度参数

Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,

波纹度参数

Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr

JIS B0601-2013

原始轮廓参数

Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,

粗糙度参数

Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr

波纹度参数

Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr

GBT 3505-2009

原始轮廓参数

Pa,Pq,Pp,Pv,Pz,Pc,Pt,PSk,PKu,PSm,PPc,Pdq,Pdc,Pmr,

粗糙度参数

Ra,Rq,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,RSk,RKu,RSm,Rdq,Rdc,Rmr

波纹度参数

Wa,Wq,Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,WSk,WKu,WSm,WPc,Wdq,Wdc,Wmr


产品应用范围






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公司性质:
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