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DZ2-IR-日本Union红外观察测量显微镜半导体封装

  • 产地
  • 所在地
  • 日本
  • 暂无

更新时间:2024-05-03

有效日期:还剩160

产品详情

主题:日本Union红外观察测量显微镜


型号:DZ2-IR


品牌:日本UNION


应用于半导体各种封装内部结构的测量


特点:

1.650~1200nm波长光学系统从可见光到近红外光范围。

2.无级变倍放大倍率(1.5X~15X)或(5X~50X)。不需要更换物镜,同时具备高的工作距离。 3.配置Uni-Measure测量软件,进行大尺寸移动测量,或微观的小尺寸测量。

4.配备表面和透射的红外光照明,能很好应用于半导体各种封装内部结构的

观察,如BGA,CSP,COF和晶圆级封装等。


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