WLP-202平均粒度仪

WLP-202平均粒度仪

(即费氏粒度仪)是一种利用空气透过法来测定各种粉末材料平均粒度的仪器，由于不受材料结团对测量的影响，测试的粒度重复性非常的好，精度高，由于仪器结构简单，操作方便，造价低，性能稳定,自1978 年投产以来，广泛应用于硬质合金，磁性材料，化工材料，医药，陶瓷等工业上。四十年来深受国内外用户好评

WLP-202平均粒度仪

主要技术参数

·测量范围：第一档：0.2-20 微米；第二档：20-50 微米

·孔隙度范围：0.4-0.8

·环境温度：25±10℃

·重复性：3%

·电源：110V/60HZ, 220V/50HZ, 任选一种

·功率：30W

·重量：18kg

·外形尺寸：735×415×245mm^3

应用范围

由于是空气透过法，对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。

广泛应用于 磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。

原理

是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。

平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师，至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂，把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪，在99年时增加了YXQ-100压力校正器升级为WLP-208平均粒度测定仪，后期转为丹东华宇仪器有限公司。