NRI-100红外光谱折射率计分光计器仪器

NRI-100红外光谱折射率计分光计器仪器

NRI-100红外光谱折射率计分光计器仪器

NRI-100红外光谱折射率计

NRI-200色散红外光谱评估系统

OD-10高浓度测定用分光光度计

ART-25光学元件测量装置

台式真空紫外光度计

NRI-100红外光谱折射率计

NRI-200色散红外光谱评估系统

OD-10高浓度测定用分光光度计

ART-25光学元件测量装置

台式真空紫外光度计

PRS-1受光元件响应速度测量装置

是测量光传感器等受光元件的响应速度的装置。这是表示生成的载波能多快取出外部电路的值，以上升时间/下降时间表示。

下降时间是脉冲输入光的值10%→90%上升时间，上升时间是脉冲输入光的值90%→10%下降时间。装置主要由脉冲LD、样品室、DC电源、示波器、控制PC构成，通过安装在控制PC上的软件对各部分进行控制及测定。

LBC-2激光诱导电流测量装置

本装置是各种太阳能电池和光电转换元件（SiPD、CCD、CMOS）的光电流分布测定装置。

采用LBIC【Laser Beam Induced目前态】的测定方法。

搭载标准波长520nm激光器，将样品移动到XY，测量短路电流（Isc）。空间分辨率约为10达到m

最多50×可以测量50mm的样品。

特别是由钙钛矿太阳能电池等旋转镀膜法制作的太阳电池，在样品面的中心和端部存在均匀性不同的问题，适合评价这样的样品。另外，在SiPD、CCD、CMOS等领域，也适用于涂层材料等的均匀性评价。

BIP-FETS FET测量装置

是评价场效应晶体管特性的装置。从2个源极向样品施加源极（VS）-漏极（VD）间电压、源极（VS）-门（VG）电压。

可以测量漏极电流，进行ID–VSD特性测量和ID－VSG特性测量。根据测量的数据，可以算出移动度和阈值电压。

另外，还计算漏极电流的接通断开比。

规格：

待测样品 FET（接触头等）

施加电压控制 源极-漏极间电压、源极-栅极间电压

施加电压范围 0～±200V

最小施加电压 ±10µV

施加电压间隔 0.01/0.02/0.05/0.1/0.2/0.5/1/2/5/10V