XRF6能量色散X射线荧光分析仪

     XRF6能量色散X射线荧光分析仪，既可以对大量样品进行无损检测，也可以对块状固体，固体粉末和液体样品等进行实验室级别的元素分析。很适宜于针对RoHS指令的多元素测试。

特点：

· 采用进口高分辨率探测器

· 准确：分析精度高，放心安心的检测结果。

· 快速：对样品无特殊要求，可直接测试，通常在60-100S之间即可确定饰品所含金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱的含量。

· 简单：完善的自动化测试功能实现真正的一键式操作，无需任何形式培训，即用即会。

· 无损：非破坏性的无损饰品检测。

· 经济：直接测试饰品，无须耗材，节约成本。

· 安全：光闸系统同X射线联锁安全装置互动，确保人员安全。

· 标准：测试结果*符合国标GB/T 18043-2013的精度要求。

 定量分析
A，FP基础参数法
B，标准法
C，1点校正

XRF6能量色散X射线荧光分析仪主要技术指标
分析原理 能量色散X射线荧光分析法
分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）
检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
样品形状 大460×380mm(高150mm)
样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体
样品室气氛 大气
X射线管 靶材 Rh
管电压 大50KV
管电流 大1mA
X射线照射径 1/3/5mm
防护 <0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕）
检测器 硅SIPIN探测器
光学图像观察 倍率15倍
软件 定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）
照射径： 1/3/5mm
定量分析： 基础参数法/标准法/1点校正
计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上
内存 256MB以上
硬盘 20GB以上
OS WindowXP
监视器 17寸LCD
周围温度 10～35。C（性能温度）/5～40。C（动作温度）
周围湿度 5～31。C时温度范围：大相对湿度80%以下
31～40。C时温度范围：相对湿度50%以下
电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗电力 1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机）
设备重量 约65kg(不含桌子、计算机）
外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm

售后服务

• 免费上门安装：是
• 保修期：1年
• 是否可延长保修期：是
• 保内维修承诺：免费维修更换零件
• 报修承诺：24小时内响应
• 免费仪器保养：定期回访
• 免费培训：型号1人次免费来京培训
• 现场技术咨询：有