产品详情
XRF9能量色散X射线荧光分析仪采用薄样技术与厚样技术相结合的方式,既可以对大量样品进行无损检测,也可以对块状固体,固体粉末和液体样品等进行实验室级别的元素分析。特别适宜于针对RoHS指令的多元素测试。
特点:
· 采用多光束可调节系统
· 高分辨率探测器
· 采用XYZ三维运动样品台
· 大型样品分析室
· CCD摄像及自动定位系统
· 自动调节双层六通道滤光系统
XRF9能量色散X射线荧光分析仪物理原理
当材料暴露在短波长X光检查,或伽马射线,其组成原子可能发生电离,如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,然而这使原子的电子结构不稳定,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此,物质放射出的辐射,这是原子的能量特性。
主要技术指标
分析原理 能量色散X射线荧光分析法
分析元素 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)
Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)
检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
样品形状 大460×380mm(高150mm)
样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体
样品室气氛 大气
X射线管 靶材 Rh
管电压 大50KV
管电流 大1mA
X射线照射径 1/3/5mm
防护 <0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕)
检测器 硅SIPIN探测器
光学图像观察 倍率15倍
软件 定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)
照射径: 1/3/5mm
定量分析: 基础参数法/标准法/1点校正
计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上
内存 256MB以上
硬盘 20GB以上
OS WindowXP
监视器 17寸LCD
周围温度 10~35。C(性能温度)/5~40。C(动作温度)
周围湿度 5~31。C时温度范围:大相对湿度80%以下
31~40。C时温度范围:相对湿度50%以下
电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗电力 1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机)
设备重量 约65kg(不含桌子、计算机)
外形寸法 600(W)×545(D)×435(H)mm
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