MKRD707-抛物面雷达物位计

26G（抛物面天线）高频雷达物位计

MKRD-707（抛物面天线）雷达物位计是一款采用脉冲原理非接触式雷达物位计，可广泛应用于测量固体料位、过程容器、强粉尘、易结晶、结露场合.

工作原理

测量原理 雷达物位计通过天线发射极窄且能量很低的微波脉冲信号，这个脉冲信号以光速在空间传输，遇到被测介质发生反射，反射信号被仪表接收，发射脉冲信号与接收脉冲信号的时间间隔与基准面到被测介质表面的距离成正比，通过测量发射与接收的时间间隔，来实现天线至介质表面距离的测量

应      用： 固体料位、过程容器、强粉尘、易结晶、结露场合

频率范围： 26GHz

测量范围： 0-70m

精      度： ±15mm

介质温度： -40...250℃

过程压力： -0.1...4.0Mpa

过程连接： 螺纹、法兰

防爆等级： Exia II CT6；Exd II CT6

防护等级： IP67

信号输出： 4...20mA/HART（两线/四线）

RS485/Modbus

1 产品概述

1.1 上佳物位测量解决方案

MLRD607系列雷达物位计是一款采用脉冲原理非接触式雷达物位计，可广泛应用于测量液体、浆料及粘稠物等的距离、物位、体积、重量及明渠流量，也可用于测量粉末、颗粒、块状等固体介质。即使在多粉尘、有搅拌的应用场合中，也可以稳定测量。

1.2 测量原理

雷达物位计通过天线发射极窄且能量很低的微波脉冲信号，这个脉冲信号以光速在空间传输，遇到被测介质发生反射，反射信号被仪表接收，发射脉冲信号与接收脉冲信号的时间间隔与基准面到被测介质表面的距离成正比，通过测量发射与接收的时间间隔，来实现天线至介质表面距离的测量。

图1 测量原理示意图

①时间1：产生初始脉冲

②时间2：沿喇叭天线向下行进，速度C（光速）

③时间3：脉冲遇到介质表面发生反射

④时间4：反射脉冲被接收，并被处理器记录

⑤脉冲信号从被发射到被接收之间的时间差T，与基准面到介质表面的距离D成正比：D=C×T/2

⑥测量的基准面是： 螺纹底面或法兰的密封面

⑦ A:量程  B:低位  C:满位  D:盲

⑧运行时，保证高料位不能进入测量盲区D

1.3 技术优势

• 采用高达26GHz的发射频率

• 高频率与信噪比，是低介电常数介质的上佳选择

• 波束角小，能量集中，具有更强抗*力，大大提高了测量精度与可靠性

• 测量盲区更小，对于小罐测量也会取得优异效果

• 波长更短，对于小颗粒介质与倾斜的介质表面的物位测量效果更好

• 测量灵敏、刷新速度快、天线尺寸小、安装简便、牢固耐用、免维护

• 非接触式测量，无磨损，无污染，可测量液体，固体介质的物位

• 几乎不受温度、压力、水蒸汽、泡沫、粉尘等复杂工况的影响

• 采用两线制回路供电的技术，供电电压和输出信号通过一根两芯电缆传输，节省成本

• 采用*微处理器和*回波处理技术，可适用于各种复杂工况

• 发射功率极低，可安装于各种金属、非金属容器内，对人体环境均无伤害

• 带有按键的显示屏可方便设置仪表的参数

1.4 可应用的行业：化工与石化、电力、 钢铁及冶金、 矿产、造纸及纸浆、水及污水、食品与饮料、 制药 。

可应用的工况：中间料仓、储仓、料斗、储罐、过程罐、搅拌罐、其他。