产品详情
产品名称:高精度铜箔厚度测量仪
产品型号:C640
产品价格:济南兰光咨询
产品介绍:
高精度铜箔厚度测量仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量
高精度铜箔厚度测量仪测试原理:
将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。
参照标准:
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)
测试应用:
基础应用 薄膜、薄片、纸
扩展应用 金属片、硅片、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、其它材料
高精度铜箔厚度测量仪技术参数:
C640M
测试范围(标配) 0~2mm
分辨率 0.1μm
重复性 0.8μm
测量范围(选配1) 0~6mm
测量范围(选配2) 0~12mm
测量间距 0~1000(可设定)mm
进样速度 1.5~80(可设定)mm/s
测量方式机械接触式
测量压力及接触面积薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2
C640H
测试范围(标配) 0~2mm
分辨率 0.1μm
重复性 0.4μm
测量范围(选配1) 0~6mm
测量范围(选配2) 0~12mm
测量间距 0~1000(可设定)mm
进样速度 1.5~80(可设定)mm/s
测量方式机械接触式
测量压力及接触面积薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2
济南兰光机电技术有限公司(简称Labthink兰光)是一家致力于帮助客户获得成功、员工获得发展、品牌获得尊敬的跨国科技公司。20余年专注于检测技术、仪器研发、测试服务和实验室建设四大领域,从以济南为核心的中国检测成长为立足美国进军的跨国科技企业,为医药、食品、印刷、包装、汽车、电子、生物、建筑、航空、新能源、石油化工等领域超过3万家客户提供了全面、专业的产品质量控制解决方案。
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