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金属镀层厚度分析仪DX-520L工作原理
X射线光谱方法测定金属镀层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知,同时又给出实际的密度,则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
Think600金属镀层厚度分析仪是集德谱仪器多年镀层测厚检测技术和经验,以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。
金属镀层厚度分析仪DX-520L性能规格:
【型号】: DX-320L
【测试对像】: 粉未、固体、液体
【元素分析范围】: 钠(Na)-铀(U)
【同时zui多可测元素】: 36种
【含量分析范围】: 1ppm~99.99%
【工作稳定性】: 总荧光强度为0.1%
【测试时间】: 60~200秒
【探测器分辨率】: 139eV±5
【多道分析器】: 2048道
【X射线光管】: 功率50W,靶材可选Ag、Rh、W、Mo
【高压电源】: 电压范围0~50KV,稳定度每小时小于0.05%
【外型尺寸】: 660mm×500mm×330mm
【测量仓】: 450mm×350mm×100mm
【重量】: 62Kg
【zui低检出限】: Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm
镀层技术参数:
【可测镀层数】: zui多可达5层
【镀层种类】: 单金属镀层、合金镀层
【镀层识别精度】: 分析检出限可达2ppm,zui薄可测试0.005μm。
【厚度测试范围】: 轻金属(如:Ti、Cr等)0.01~50um
中金属(如:Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01~30um
重金属(如:Pt、Au、Pb等)0.005~15um
金属镀层厚度分析仪DX-520L应用领域:
广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业
金属镀层厚度分析仪DX-520L使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。
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