GDRD59-PJGPIE2BAAMA-雷达料位计/脉冲型雷达物位计（26G）

雷达料位计/脉冲型雷达物位计(26G)    概述

雷达料位计/脉冲型雷达物位计(26G)特　　征：　

多种天线，抗结露、结晶、挂料、粉尘，波束集中。

雷达料位计/脉冲型雷达物位计(26G)

应　　用：　应用于量程较短的固体料位测量。
zui大量程：　15m
测量精度：　±10mm
天线材料：　(T型)不锈钢316L喇叭/PTFE振子
(V型)不锈钢316L/PTFE振子
(W型)不锈钢316L/PTFE振子
天线结构：　(T型)尖锥形振子，防凝结物差
(V型)锥面振子，防凝结物
(W型)抛物面天线，4度开角
过程温度：　(T型)(-40～200)°C
(V型)(-40～200)°C
(W型)(-40～200)°C 
过程压力：　(T型)(-0.1～4)MPa
(V型)(-0.1～0.3)MPa
(W型)(-0.1～4)MPa
频率范围：　26GHz
信号输出：　(4～20)mA/HART
电　　源：　四线制
 
详细介绍： 
GDRD59
许可证        
P   标准型（非防爆）
I   本安型（Exia IIC T6）
G   本安型+隔爆型（Exd [ia]ia IIC T6）
天线型式/材料
K   (S型)喇叭天线Φ98mm/PP/带PTFE罩
L   (S型)喇叭天线Φ98mm(加长）/PP/PTFE罩
X   特殊定制
过程连接/材料   
GB (G)螺纹G1½A/PP
GX 特殊定制
法兰选配/材料   
HA (L)DN100法兰/PP
HD (N)DN100万向节法兰/PP
GX 特殊定制
密封/过程温度  
2  Viton(-60～80)℃
电子组件
B   (4～20)mA/HART两线制
C   (4～20)mA/(22.8～26.4)V DC /HART两线/四线制
D   (198～242)V AC/HART四线制
外壳/防护等级
A   铝/IP67
B   塑料/IP66
D   铝两腔/IP67 
电缆进线
M   M20x1.5
N   ½NPT
现场显示/编程
A   带
X   不带
注: 本安型（Exia IIC T6）只限用“B”电子组件及“A”型外壳；本安+隔爆型（Exd [ia]ia IIC T6）
只限用“D”电子组件及“D”型外壳; 标配法兰大小参照GB/T9119-2000 PN1.6MPa尺寸,厚度为15.
 

现代工业物位测量中，超声波物位计和雷达物位计得到广泛应用，作为两大类主流仪表，发展到今天，已经出现30多种型号，以满足不同种工况的需要。所以选择一款正确的仪表至关重要。
那么在仪表选型的时候，我们根据什么来判断呢？我们的目的是得到在被测料面的一个反射波；同时又不存在其他干扰波或干扰波很小。能对这个目的产生影响的存在两大方面。其一是：电磁波或超声波传输的途径中，环境所造成的影响。其二：被测料面的状态对反射信号的影响。
再稍微细分一下这两大方面的影响。
环境所造成影响的因素有：
1、障碍物的影响。
如果仪表发射的超声波或电磁波接触到障碍物，那么就会得到一个干扰波形。如果无法选择其他理想的安装位置时，选择波束角小的仪表或者采用导波管或旁通管的安装形式是可以解决问题的。
2、传播介质的影响
（1）温度
（2）压力
（3）传播介质的腐蚀性
（4）传播介质中是否含有蒸汽或粉尘等
（5）环境中挥发物质的结晶问题或粉尘的粘附问题。
解决好上述问题，那么我们就保证了，电磁波或超声波到达被测料面时，没有大的衰减。通过被测料面的反射，得到一个回波信号。回波信号的强弱和被测料面以下状态相关。
1、被测物质的介电常数或硬度
介电常数影响了电磁波反射的强弱。介电常数越大，反射回波则越强。而硬度则是对声波的反射而言的。硬度越大，声波的反射越强。
2、被测料面的堆角
3、被测料面的稳定性
4、被测物的颗粒度和疏松度
5、被测物的湿润度
关注以上问题，就是为了能够选择一款仪表，在被测料面反射时，能得到一个可以识别的回波信号。随着波的传输、反射和再传输这样一个流程的结束，其间所遇到的问题都考虑周全，那么仪表的选型也就完成了。