CMI900X-ray膜厚测厚仪

CMI900X-ray膜厚测厚仪

X-RAY测厚仪可测量各类金属层、合金层厚度. 

可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U) 

可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm 

X-射线管：油冷,超微细对焦高压：0-50KV(程控) 

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.3*0.05,0.05*0.05

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器 

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 

镀液分析镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. 

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水跌离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. 

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

CMI900X-ray膜厚测厚仪

　分析仪器部作为牛津仪器(OXFORDINSTRUMENTS)的中国区域一级代理商已十多年，拥有专业销售及维修工程师，备有充足零配件储备，专注于CMI系列测厚仪器产品在国内的销售与维护。为全国各地的电路板，半导体，连接器，汽车，五金等制造厂商及高校，科研机构，质量检测中心等广大客户提供快捷、良好的售前及售后服务和。
 

CMI900X-ray膜厚测厚仪