PLD-MPCS2.0-电子半导体图像法污染度分析仪 颗粒计数
简介:电子半导体图像法污染度分析仪颗粒计数,是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划,于2001年推向市场的成熟系统仪器;观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等,为科研、公司:西安普勒实验室设计制造有限公司企
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