XZQ-5000型谐振腔法高温介电温谱测试仪

XZQ-5000型谐振腔法高温介电温谱测试仪

谐振腔法是一种重要的材料测量方法，具有广泛的应用前景。随着科技的不断发展，谐振腔法将会在材料科学、电子工程、通信技术等领域发挥越来越重要的作用。XZQ-5000型谐振腔法高温介电温谱测试仪是为中低损耗材料、均质材料、小样品测试等需求而开发的一款高精度高性价比的材料测试平台。融合矢量网络分析仪和试夹具于一体，可进行30MHz到110GHz频率范围内的微波复介电常数测试。该系列产品精度高、接口丰富，在科研实验中能发挥十分重要的作用。

主要特点：

1、    测试精度高，速度快

2、    频率范围: 0.1~110.0GHz

3、    系统配置简单，易操作，测量软件简单易用，自动化程度高

主要技术参数：

1、频率范围: 0.1~110.0GHz

2、测试温度:-50~1750℃

3、电磁参数测试范围: er'= 1.0~100，tanoc=1.0×10-4 ~ 5×10-2ur'= 0.1 ~10.0，tanou =1.0×103~1.0

一、谐振腔微扰法测试设备

频率范围:0.1~40.0GHz测试温度:室温～1750℃复介电常数测试范围:

cr'= 1.0 ~30.0

tan&e=2.0×10-~5×102ur'= 0.5~10

tanou = 0.001 ~1.0常温测试误差:

|Asr'/er'\≤1.5%当sr'=2.0 ~30.0

Acr'|≤ 2.0% × cr'+0.02当r'=1.05~2Atanoe≤ 15.0% tano8+ 2.0x10-4

Aur'/ur'\≤5.0%

Atanou|≤ 15% tanou + 5.0x10-4样品尺寸:

圆棒或方棒状小样品材料，直径:1.0~6.Omm，高度不低于30mm;

(实际尺寸视具体情况而定)

2、高Q腔法测试设备

频率范围:2.0~7.0 GHz、7.0 ~18.0 GHz测试温度:室温~1600℃

复介电常数测试范围:

cr'=l~10

tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常温测试误差:

|Acr'/cr'\≤2.0%当sr'=2~10

Acr'|≤ 1.8%x Er'+0.02当sr'=1.05~2Atanoe| ≤ 15% tanoe +1.0×10-4

样品尺寸:

2.0~7.0GHz

圆片材料直径:150.0mm，厚度:3.0 ~10.Omm

7.0~18.0 GHz

圆片材料直径:50.0mm，厚度:1.5~3.0mm