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产品详情
本仪器是相位锁定放大器，用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道，参考信号通道和*的四阶低Q滤波技术组成，有很强的谐波抑制能力和动态储备，能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
侧板：
GM-X03
GM-X03侧板
产品特点：
1.采用进品高精密元件制作和DAAS是数字频谱分析系统测试，确保仪器具有可靠的质量和优越的性能。
2.高稳定性。
3.操作简便，实用性强
基本参数
| 计量单位： | 台 同参数产品 |
|---|---|
| 测量范围： | 5ma-500ma 同参数产品 |
| 类型： | 薄膜测厚仪 同参数产品 |
| 显示方式： | 指针,数显 同参数产品 |
| 品牌： | LXVTC 同参数产品 |
| 型号： | GM-X03 同参数产品 |
| 加工定制： | 是 同参数产品 |
| 测定对象： | 镀膜膜厚 |
