威福FRU双基涂镀层测厚仪WH82

　　产品概述

　　涂镀层测厚仪WH82是一种便携式双基(铁、铝)测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室中的精密测量，也可用于工程现场广泛地应用在金属制造业、化工业、航空航天、科研开发等领域，是企业保证产品质量、商检测控、的检测仪器。

　　符合标准

　　GB/T 4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法

　　GB/T 4957─1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法

　　JB/T 8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪

　　JJG 889─95《磁阻法测厚仪》

　　JJG 818─93《电涡流式测厚仪》

　　威福FRU双基涂镀层测厚仪WH82产品特点

　　采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测量头的系统误差进行修正，保证仪器在测量过程中仪器的准确性;能快速自动识别铁基体与非铁基体具有电源欠压指示功能操作过程有蜂鸣声提示;设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式;有负数显示功能，保证仪器在零位点的校准准确性;有显示平均值、Z大值、Z小值功能 ]

　　涂镀层测厚仪WH82技术参数

　　威福FRU双基涂镀层测厚仪WH82的测量原理

　　采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、 油漆等)及非磁性金属基体(如铜、 铝、 锌、 锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

　　膜厚仪

　　a)磁性法(F型测量头)

　　当测量头与覆盖层接触时，测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

　　涂层测厚仪

　　b)涡流法(N型测量头)

　　利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测量头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测量头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

　　膜厚仪

　　威福FRU双基涂镀层测厚仪WH82的使用说明

　　1)开机

　　按下ON键后仪器听到一声鸣响，自动恢复上次关机前的参数设置后，将显示0.0μm，仪器进入待测状态。可测量工件了。经过一段时间不使用仪器将自动关机。

　　2)关机

　　在无任何操作的情况下，大约3分钟后仪器自动关机。按一下“ON”键，立即关机。

　　3)单位制式转换(公制与英制转换)

　　在待测状态下，按μm/mil可转换其测量单位。

　　4)测量

　　a)准备好待测试件

　　b)是否需要校准仪器，如果需要，选择适当的校准方法进行(参照4仪器校准)

　　c)迅速将测量头与测试面垂直地接触并轻压测量头定位套，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，仪器会自动感应被测基体：感应到是磁性基体时仪器显示Fe感应到是非磁性金属时仪器显示NFe。测量时请始终保持仪器处于垂直状态!提起测量头可进行下次测量;

　　膜厚仪

　　威福FRU双基涂镀层测厚仪WH82使用注意

　　a)基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

　　b)基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　c)基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

　　d)边缘效应

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　e)曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　f)试件的变形

　　测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

　　g)表面粗糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　h)磁场

　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

　　i)附着物质

　　本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。

　　j)测量头压力

　　测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　k)测量头的取向

　　测量头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测量头与试样表面保持垂直。

　　威福FRU双基涂镀层测厚仪WH82使用时应当遵守的规定

　　a) N基体金属特性

　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

　　b)基体金属厚度

　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3)中的某种方法进行校准。

　　c)边缘效应

　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　d)曲率

　　不应在试件的弯曲表面上测量。

　　e)读数次数

　　通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

　　f)表面清洁度

　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

　　威福FRU双基涂镀层测厚仪WH82的保养与维修

　　1环境要求

　　严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等。

　　2更换电池

　　本仪器在使用中，当电池电压过低时，即屏幕上的电池标志显示为空，应尽快给仪器更换电池。更换电池时应特别注意电池安装的正负JI性的方向。

　　3故障排除

　　1)更换电池

　　仪器5天以上不使用时应取出电池。当仪器出现低电压提示时应更换电池，更换电池时请注意JI性。

　　2)恢复出厂设置

　　开机状态下，在2秒内依次按下按键 、▲、▲、▼、▼，屏幕显示英文对话询问是否确认恢复出厂设置，要进行恢复出厂设置，选择””并按μm/mil确认。

　　3)测量头校准修正

　　出现较大误差(如：校准不当或有操作错误等)可作六点修正校准,校准仪器。