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意大利Senseca 辐射照度探头 LP 03

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更新时间:2024-04-30

有效日期:还剩364

产品详情

意大利Senseca  辐射照度探头LP…03系列用于户外使用的探头允许测量光度和辐射量,例如:近紫外光谱区域的照度(lux),辐照度(W/m²)UVA, UVB和穿越PARregion的光子流(400 nm…700 nm)。

具有毫伏输出的探头不需要任何电源。由使光电二极管端子短路的电阻获得的输出信号。产生的光电流与入射光功率的比率被转换成电压表可以读取的电位差。一旦DDP(电位差)是已知的,测量值可以通过校准因子计算。

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意大利Senseca  辐射照度探头所有探头都是单独校准的,校准系数也显示在探头外壳上。

具有归一化输出电流4…20ma或电压0…10vdc或rs485 MODBUS RTU输出的探头需要外部电源。
LPUVB03探头仅适用于标准输出电压为0…5 vdc且需要外部供电的情况。

意大利Senseca  辐射照度探头LP…03系列的所有探头都配有余弦校正扩散器,保护圆顶和M12公4极或8极连接器。2.5或10米长度的电缆,带母连接器,可根据要求提供。

LP PHOT 03
探头LP PHOT 03测量照度(lux),即光源照射在被照物体单位面积m上的光通量(lx)。光照度探头的光谱响应曲线接近于人眼的光谱响应曲线,即标准光度敏感曲线V()。LP PHOT 03曲线与标准广度敏感曲线的差压表示为对比误差 Error F’1。LP PHOT 03探头的光谱响应的照度计的读数来校准的, 该校准符合标准CIE No69(1987)。该探头为可以室外测量读数。CIE滤光器,余弦校正滤光器和K5玻璃保护圆帽。加热选项可以在低温下精确测量。根据选择的配置,输出为mV或标准4-20mA/0-10Vdc
技术参数:
典型灵敏度:0.5 ÷ 1.5 mV/(klux)
光谱范围:V(λ) (见图表)
校准的不确定性:< 4%


LP RAD 03:
LP RAD 03测量辐照度,是在VIS-NIR(400nm-1050nm)光谱范围内单位面积m上接受的辐射通量(W)。该探头可以室外测量读数。余弦校正滤光器和K5玻璃保护圆帽。加热选项可以在低温下精确测量。根据选择的配置,输出:每μW/cm2为μV或标准4-20mA/0-10Vdc。
技术参数:
典型灵敏度:1÷2.5 μV/(μW/cm2)
光谱范围:400nm ÷1050nm
校准的不确定性:<5%
(余弦响应误差):f2<3%
(线性):f 3<1%


LP PAR 03
LP PAR 03测量400nm-700nm光谱范围内单位面积m2单位时间接收的光子量(photon),称为光合有效辐射PAR。探头是按照卤钨灯在特定光谱范围内的光谱辐射亮度来校准的。温度对探头光谱响应影响很小。探头可以室外测量读数。余弦校正滤光器和K5玻璃保护圆帽加热选项可以在低温下精确测量。根据选择的配置,输出:每μmol 为μV 或标准4-20mA/0-10Vdc。
技术参数:
典型灵敏度:1÷2.5 μV/(μmol/(m-2s-1)
光谱范围:400 nm ÷ 700 nm
校准的不确定性:<5%


LP UVA 03
LP UVA 03测量长波黑斑效应紫外线UVA(315…400nm)光谱范围内单位面积m2辐照(irradiance)W/m2的探头。该探头由于一种新类型的发光。二极管,不受可见光和红外线的影响。探头是按照Xe-Hg氙灯所产生的波长为365nm光线来校准的。该探头可以室外测量读数。余弦校正滤光器和K5玻璃保护圆帽。加热选项可以在低温下精确测量。根据选择的配置,输出:每μW/cm2为μV 或标准4-20mA/0-10Vdc。
技术参数:
典型灵敏度:70÷200 μV/(W/cm2)
光谱范围:327÷384nm (1/2)
312÷393nm (1/10)
305÷400nm (1/100)
波峰: 365nm
校准的不确定性:<6%


LP UVB 03BLAVR:
LP UVB 03BLAVR测量中波红斑效应紫外线UVB(280…315nm)光谱范围内单位面积m2上辐照(irradiance)W/m2的探头。光谱的灵敏性主要集中在365nm处,其中5nm的频宽(FWHM)。地球辐射是由太阳直接辐射和平面上的散射辐射组成的。在UVB范围内,大气层散射光线能力很强,因此太阳直接辐射和平面散射基本一样多,所以精确测量这两部分都很重要。该探头可以室外测量读数。余弦校正和二氧化硅(Quartz)保护圆帽。加热选项可以在低温下精确测量。
标准输出:0-5Vdc
技术参数:
典型灵敏度:≈6V/(W/m²)
光谱范围:301nm ÷ 306nm (1/2)
295 ÷ 308.5nm (1/10)
290 ÷ 311.5nm (1/100)
波峰: 304nm
校准的不确定性:6%




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