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产品详情
针对LPDDR5/DDR5提供了高速多通道的误码测试仪（BERT）, 适合用在DDR5 DRAM/RCD/DB等物理层接收机信号质量完整性测试及针对DDR5协议层之功能性验证. 目前DDR 4/5 DB/RCD高速多通道码型产生器有广泛的应用在各大DDR5相关的厂商中，完整的支持DDR5 DRAM Test Suite，DDR5 R-DIMM Test Suite， DDR5 RCD Test Suite，DDR5 DB Test Suite，LPDDR5 DRAM Test Suite等等。代表客户包括： Intel, AMD, IDT, Rambus, Montage, Micron，Hynix等等。
DDR 4/5 DB/RCD高速多通道码型产生器产品特色：
强大的硬件能力，提供宽广且连续的操作频率，单台硬件设备可同时支持16 Tx/16 Rx测试，每个信道可达12.5Gsps。单机分别提供可独立控制的信号产生器与码型侦测器。
灵活的物理层控制能力，各通道可以独立控制并提供抖动注入(Jitter Injection)、相位调整(Skew)、电压摆幅控制以及时序调整的能力，大幅提高测试完整度。
提供多种协议模型，可应用在DRAM、DB、RCD与Module等产品开发。
轻巧且可携带的体积，在实验桌上即可以完成系统级测试。
弹性且灵活的Python软件开发环境，可搭配控制循环进行多个测试变量的自动化测试并自动产生测试报告。
