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DIL 402 Expedis Classic - 重新定义热膨胀仪
耐驰公司新款热膨胀仪 DIL 402 Expedis Classic 集成了热膨胀测量领域的技术,为宽广应用领域内的专业级的应用而设计。DIL Expedis 系列的所有型号均基于*的 NanoEye 测量系统,在测量范围与精度两方面达到了新的高度。每一纳米均纳入计算
量程与分辨率的新的
对于传统的热膨胀仪,测试量程与分辨率这两个参数很难两全:高分辨率只能在很小的量程中实现;如果要得到较大量程,只能牺牲一定的分辨率。
新型自反馈光电位移测量系统 NanoEye 克服了这一技术上的矛盾,能够同时提供高的分辨率、的线性度与宽广的量程。
工作原理
在测试过程中,当样品发生膨胀时,图中所有的绿色部分将在线性导轨(图中蓝色部分)的引导下向后移动,并由光学测出相应的长度变化。仪器特点DIL 402 Expedis Classic 既可配备为单样品系统,也可配备为双样品/差示系统。仪器为一体化设计,两个版本的主机均已集成了精确测量热膨胀所需的所有硬件。既没有多余的外部电缆,也不需要额外的冷却水浴。
DIL 402 Expedis Classic - 技术参数
温度范围:RT … 1600°C
升温速率:0.001 50 K/min
测量系统:NanoEye(单样品,或双样品/差示系统)
样品支架:熔融石英或氧化铝,可自由更换。
温度准确度:1 K
温度精度:0.1 K
m.CTE(平均线膨胀系数)重复性:10-8 1/K
测量范围:± 5000 μm
分辨率:2 nm(全量程)
样品长度:0…52mm(自动样品长度测量)
气体控制:1 路(标配),或 3 路(选配)
气氛:惰性,氧化性,静态/动态
可选配空气压缩冷却系统
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