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产品详情
半导体激光器老化电源特点
准确度0.1%；
支持LIV扫描测试；
直流Z大60A输出；
Z小脉宽100us;
电源抗浪涌设计；
丰富的扫描模式；
预留光电流、温度/水流量监控、DIO接口；
支持多种通信接口：RS-232/LAN。
技术参数
HCPL系列半导体激光器老化电源具备CW及QCW输出能力，单设备CW输出电流可高达60A，输出电压可高达100V，可广泛应用于大功率LED的LIV测试及老化、大功率半导体激光器的LIV测试及老化、肖特基二极管测试、整流桥堆测试等。设备支持多台并联来实现更大电流输出，输出电流精度及电压测量精度均可达0.1%。基于普赛斯多年SMU研发经验，产品集成了电压测量、光电流测量、温度监控、水流量监控等，特别适用于施加电流并同步测量的场景，可大幅度降低系统集成难度。
普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验B备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富,半导体测试领域的经典产品!
