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TS-780H高低温冲击气流仪在RF测试中的应用
在集成电路的 RF 射频屏蔽高低温测试。*的 TS-780H 高低温热流仪系统现在可以与射频行业各类箱室进行 配对,可以轻松地在受控的射频环境中进行各种温度下的 IC 测试。在不良温度下的射频测试不仅对半导体行业, 而且对整个电子行业来说都是一个挑战。
ThermoStream TS-780 是一台精密的高低温冲击热流仪,具有更广泛的温度范围-80℃到+225℃(箱室内温 度需根据容积/负载核算),DUT 的功能可以确保箱体的温度,提供温度稳定性<±1°C;*的温度转换能力,温 度转换从-55℃到+125℃之间转换小于 90 秒(容积不同,转换能力不同) ,热流仪支持自动化编程使用。当 Flex 软管和 d 箱室配对时,HEAD 在一个 RF 射频隔离的环境中,因为灵活的连接性,可以设计直接接触到测试样品。