XTU-50A-荧光光谱测厚仪性能优势

荧光光谱测厚仪性能优势

选择荧光光谱测厚仪的四大理由：

1.一机多用，无损检测

2.最小测量面积0.002mm²

3.可检测凹槽0-30mm的异形件

4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用：不同层有相同元素，也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，第一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）

2. 涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）

3. 厚度低检出限：0.005μm

4. 成分低检出限：1ppm

5. 最小测量直径0.2mm（最小测量面积0.03mm²）

6. 对焦距离：0-30mm

7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 仪器重量：45KG

10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm

11. XY轴工作台最大承重：5KG

荧光光谱测厚仪操作技术

• 快速精准移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm

• 微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm²的样品，可测试各微小的部件

• 高效率正比接收器：即使测试0.01mm²以下的样品，几秒钟也能达到稳定性

• 变焦装置计算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm

• 对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品

荧光光谱测厚仪性能优势应用领域：

广泛应用于电镀镀层厚度分析、接插件等电子元器件检测、紧固件行业、五金行业（家用设备及配件等，如Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)）、汽车零部件、配饰厚度分析、新能源行业（光伏焊带丝等）、汝铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、电镀液的金属阳离子检测等多种领域。