Vario Lab-贝莱克光谱仪Belec Vario Lab

贝莱克光谱仪Belec Vario Lab

贝莱克光谱仪Belec Vario Lab产品功能

•较高的分析精度
•较大的*稳定性

•检测下限低
•在样品尺寸和形状方面几乎没有任何限制
•坚固的实验室光谱仪

•多种配置可选的灵活性
•开放式火花台
•操作员已操作的Belec Win21软件
•综合动态合金数据库
•包括基本的特定漂移校正样本
•Belec 专业人员的安装和指导
•运营成本很低

Belec Vario Lab 应用

新的Belec Vario Lab是同类中较优质的光谱仪之一。

由于简单的操作界面和Belec WIN 21软件，几乎没有任何限制。 可以根据客户特定的应用轻松选择和配置任何程序功能。

应用领域不受限制。 无论在实验室还是车间，没有任何不能考虑的地点。

理想工作环境

Belec Vario Lab的精心设计确保了在舒适的工作高度下符合人体工程学设置的光谱仪。 抽屉有足够的空间容纳用户工具，漂移校正样品和其他配件。

Belec Vario Lab的不同形式：惰性气体光谱室，真空系统和空气光谱室，具体取决于不同的应用

两种模式可供选择，具体取决于您的需要

随着基本上需要较大精度和检测下限，配备传统的高灵敏度光电倍增管探测器的2P型号是理想的工具。

第二个变型，2C型，配备了较新的艺CCD探测器。

由于灵活的设计，建议用于任何多基体应用。

已经用于其他光谱仪的成熟的5GSO系统确保了理想光谱线

由于MCDC系统自动校正光谱线漂移，需要每天做重复校准已经是过去式。

普遍适用于附加探头（仅2P型）

额外的火花探头可以进一步增强仪器的功能。

对于大，笨重或不可破坏的样品的分析，您可以使用我们的一个火花探头。 有了这个*的选择，Belec Vario  Lab 涵盖了所有可能的金属分析应用。

Belec Vario Lab技术数据

光学

- 帕邢 - 龙格装置光谱室

- 罗兰圆直径500毫米

- 可用波长1范围20-430 nm

- 光栅3600线/ mm

- 色散率0.52nm / mm（1次）

- 耐冲击

- 光电倍增管系统温度稳定，偏差仅为±0.1°C，具有出色的*稳定性

- 可选第二个光谱室*

- 较多可分析11个基体和108个元素通道

- 带气体净化器的惰性气体交换光学室

- 选件，可用波长达800 nm *

真空系统

- 2级旋转真空泵

- 大的油分离器

- 油蒸气收集器

- 面板真空计

光源

- 火花发生器的较大频率400HZ

- 单极放电

- 通过软件控制预火花参数和集成数据参数

- 通过软件控制点火频率程序

- 通过软件控制放电功率程序

- 空气探头电弧源，可选

- 点火电压20 kV

测量台

- 氩气冲洗测量台进行精确分析

-火花台上带Ø 10 mm分析口，可选带Ø4mm分析口的陶瓷或金属垫片

- 可配合线材、管材和小零件适配器使用

- 低损耗钨电极

- 气动式试样夹持器

- 在待机时氩气流量为0.1升/分钟，分析时为2升/分钟

- 免维护

电子器件（2P型）

- 稳定的高压

- 零漂移模拟放大器

- 每个通道6位十进制动态A/D转换器

- 48个数字集成元素通道，可配置多个基体

电子器件（2C型）

- 15个探测器，每个3648像素，宽7μ像素

- 每个探测器都有独立的AD转换器，安装在多通道板上，

   以高速通用端口连接

- 集成噪声抑制 - 集成背景补偿

- 无限数量的测量信道，可配置多个基体

重量

- 分析仪器80 kg

电源

- 230V / 50Hz或110V / 60Hz

- 100 W待机时

- 600 W分析时

带可选真空系统

- 600 W待机时

- 1100 W分析时

 电脑硬件

- 系统集成工业计算机系统

- 英特尔®ATOM®单核N270（1.66 GHz）处理器

- 2 GB RAM和2.5“固态硬盘（SSD）128GB

- 带VGA输出的Intel®graphic 945

- 具有客户特定区域和语言的MS Windows 7操作系统

- TeamViewer®的远程服务系统（RSS）

- 18,5“宽屏彩色显示器，其他显示器可用

- 带触摸板的完整的外接键盘

- USB 2.0端口

- 以太网接口RJ 45,100 Mbit / s

- 串行端口

- 并行接口

软件

- Belec WIN 21分析和质量控制程序

- 通用操作系统，例如MS Windows 7

- 远程服务系统*

- 每次测量时都会显示分析值

- 可以根据客户要求设计不同的分析程序

- 每个分析程序都有独立的分析参数

- 自动程序选择（APF）*

- 分析计算：背景校正，曲线位置校正，乘和加相互修正

- 以标准类型进行自动修正（类型校正）

-用于日后评价、打印和文档的报告存储功能

- 以图形表示多种统计功能