供应TSL-西安电子芯片高低温冲击试验箱,冷热冲击试验箱-仪表网

产品详情

一、西安电子芯片高低温冲击试验箱满足与执行标准

.GB/T2423.1-1989低温试验方法Test method of low tempemture test
·GB/T2423.2-1989高温试验方法Test method of high temperature test
·GB/T2423.22-1989温度变化试验Test of temperature chantge
·GJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shock
·GJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shock
·GJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shock

二、西安电子芯片高低温冲击试验箱产品用途

温度循环冲击测试箱也叫冷热冲击试验机、温度冲击试验箱，广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。

三、特点

1、产品外形美观、结构合理、工艺*、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。
2、设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物*静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.
3、采用采用*的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。
4、具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，zui大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行；
5、箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。
6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
7、具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.
8、*科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的*可靠性
9、可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜.
10、出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。
11、运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,屏幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。
12、冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美*压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R507，R23.
13、*安全保护功能：电源超载保护、漏电保护、控制回路超载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。
14、箱体内外部材质采用不锈钢板(SUS#304),外部材质有种不同外箱材质可供选择
1) 纹路处理不锈钢表面，如经常顺着纹路擦拭，可使机器长时间保持崭新的外观(*此种选择)
2)特殊防锈处理钢板静电喷涂表面，质地高档(依客户要求)每个产品都根据客户的要求订做，保证了设备的高效节能，并在现场调试和验收，保证用户方的使用性能。

四、主要技术指标

1、温度范围：-40/-55/-65℃～150℃

2、高温箱： +60℃～200℃

3、低温箱： 0℃～-80℃

4、温度波动度：±0.5℃

5、温度均匀：±2℃;

6、升温速率：≤5℃/min

7、降温速率：≤5℃/min

8、预冷下限温度：≤-70℃;

9、电源：380V±10﹪ 50Hz

五、安全保护措施:

1、工作室超温；2、制冷机超压;