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ATX350精密超声波测厚仪概述
ATX350精密超声波测厚仪采用单晶延迟探头,利用多次回波提高精度,使分辨率可达0.001mm,测量下限达0.15mm;示值误差±0.005mm(3mm以下)/±0.05mm(20mm以下)。ATX350精密超声波测厚仪具有普通和精密两种工作模式。普通模式采用界面波-回波法,测量范围是1.5mm~20mm;精密模式采用回波-回波法,测量范围是 0.15mm~10mm。可对各种板材和各种加工零件作精确测量。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天、特检院等各个领域。
ATX350超薄超声波测厚仪功能特点
ATX350超薄超声波测厚仪技术参数
ATX350精密超声波测厚仪基本配置