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显微熔点仪 熔点仪 型号:DP-SGW X-4B
点:
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
显微熔点仪 熔点仪主要参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 320℃ 时)
温度显示Z小值:0.1℃
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X-4 | X-4A | X-4B | |
温度显示Z小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔点观察方式 | 单目显微镜 | 单目显微镜 | 双目体视显微镜 |
光学放大倍数 | 40× | 40× | 40×-100×连续变倍 |